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PEEK · PFA · PP 材料選項
100mm–300mm 晶圓尺寸
25 槽標準型 槽位容量
SEMI E1·E15·E57 完全合規

概述

晶圓卡匣是您的晶圓與晶圓廠其他環節之間的主要介面——從濕式製程台到爐管裝載,從量測站到跨區(interbay)運輸。受污染、翹曲或逸氣的卡匣,可能在不知不覺中降低整批晶圓的良率。在 GINECHIP,我們供應全系列晶圓卡匣與載具,專為各種半導體製程環境的化學相容性、熱穩定性與微粒控制而設計。

我們的卡匣產品組合涵蓋PEEK(聚醚醚酮)——高溫濕式製程的黃金標準——到適用於嚴苛化學環境的PFA 與 PTFE,再到適合一般無塵室使用的具成本效益聚丙烯卡匣。每款卡匣均提供防靜電(ESD-safe)與抗靜電等級,以保護敏感的閘極氧化層與先進 CMOS 元件。

卡匣材料選擇指南

技術規格

參數可用範圍 / 值
材料 PEEK (polyetheretherketone), PFA, PTFE, Polypropylene (PP), Antistatic/ESD PP, Carbon-filled PEEK
晶圓直徑 100mm (4″), 150mm (6″), 200mm (8″), 300mm (12″)
槽位容量 25 slots (standard), 13 slots, 50 slots, custom slot counts
槽距 4.76mm (3/16″), 6.35mm (1/4″), 9.525mm (3/8″), 12.7mm (1/2″), custom
ESD 防護 Static-dissipative: 10⁴–10⁹ Ω/sq surface resistivity; Conductive: < 10⁴ Ω/sq
溫度範圍 PEEK: -40°C to +260°C continuous; PFA: -200°C to +260°C; PP: -0°C to +100°C
無塵室等級 ISO Class 4–5 (Class 10–100) compatible; particle-controlled packaging
配置 Open cassette, H-Bar, C-Bar, SMIF Pod, FOUP-compatible cassettes
標準規範 SEMI E1, SEMI E15, SEMI E57, SEMI E158; custom non-SEMI configurations
耐化學性 PEEK: excellent acid/alkali/solvent; PFA: near-universal chemical resistance
逸氣 PEEK: < 0.1% TML, < 0.01% CVCM per ASTM E595 (space-grade available)

卡匣配置與自動化兼容性

開放式卡匣類型

  • H 型橫桿卡匣——H 形橫桿設計,最大化晶圓取放空間;適合手動裝載與濕式製程台作業
  • C 型端板卡匣——C 形端板搭配連接桿;重量更輕,適合運輸與儲存
  • 全封閉式卡匣——封閉式側壁,在運輸過程中為晶圓提供最大保護
  • 客製槽位配置——非標準槽距、深度與晶圓固定結構

自動化介面

  • 相容 SMIF 晶圓盒——專為 150mm/200mm 晶圓廠的標準機械介面(SMIF)系統對接而設計的卡匣
  • 相容 FOUP 的內部卡匣——適用於 300mm 前開式統一晶圓盒(FOUP)的內部晶圓取放
  • 機械手臂取放功能——取放法蘭、對準缺口,以及供自動化物料搬運系統(AMHS)使用的條碼標籤面
  • RFID 標籤整合——內嵌或外附的 RFID 標籤,用於晶圓批次追蹤(選配)

ESD保護與靜電控制

靜電放電(ESD)是先進半導體製造中元件損壞的主要原因之一——尤其是先進邏輯節點中 2nm 以下的薄閘極氧化層。我們的防靜電卡匣專為滿足最嚴苛的靜電控制要求而設計:

靜電耗散型

表面電阻率在 10⁶–10⁹ Ω/sq 範圍內。電荷以受控方式耗散——足夠快以防止累積,足夠慢以避免火花放電。建議用於大多數 CMOS 與 MEMS 生產環境。

導電型

表面電阻率低於 10⁴ Ω/sq。為高度敏感元件提供快速電荷耗散。採用碳填充 PEEK 或碳填充 PP。提供接地連接點,可整合至晶圓廠接地系統。

抗靜電(表面塗覆)

以抗靜電劑進行表面處理,以降低摩擦起電。為一般 ESD 防護提供具成本效益的方案。注意:表面塗覆處理可能在反覆濕式製程中劣化——濕式製程台使用請考慮本體靜電耗散材料。

應用

濕式製程台 ——RCA 清洗、食人魚蝕刻、HF 浸泡、BOE 蝕刻——採用 PFA 與 PEEK 卡匣以確保化學相容性
爐管/擴散 ——最高 260°C 的高溫裝卸——需使用 PEEK 卡匣
晶圓運輸與儲存 ——跨區與區內 AMHS 運輸、儲存櫃存放——ESD 安全 PP 或 PEEK
計量與檢測 ——CD-SEM、缺陷複檢、薄膜厚度量測——低逸氣、微粒控制卡匣
CMP 後清洗 ——使用耐化學卡匣進行 CMP 後晶圓取放,適用於有研磨液殘留的環境
研發與試產線 ——為大學與企業研發晶圓廠提供小批量、多規格卡匣供應

品質與認證

所有晶圓卡匣均在 ISO 9001:2015 認證品質管理下製造與包裝。每一批次均進行:符合 IEST-RP-CC005 的微粒計數、符合 ASTM E595 的逸氣測試(如適用)、依 SEMI 標準的尺寸驗證,以及符合 ANSI/ESD S20.20 的ESD 性能驗證。每次出貨均附符合性證書與完整材料追溯文件。

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