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2″ – 8″ 直徑
C / R / A / M-plane 晶體取向
莫氏 9 級 硬度
2,040°C 熔點
現貨藍寶石晶圓 — 立即瀏覽2″–8″直徑與各面取向。 線上商店
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概覽

藍寶石晶圓由單晶α-Al₂O₃製成。憑藉9 Mohs硬度、2,040°C熔點,以及150nm–5,500nm的寬廣透射範圍,適用於<strong>磊晶</strong>與光學應用。

可選擇2″–8″藍寶石晶圓,平面為C/R/A/M,標準偏角±0.2° / 精密偏角±0.05°。EPD < 5 × 10³/cm²,並採用Class 100包裝,以支援高良率製程。

<strong>Epi-Ready</strong>拋光CMP RMS < 2Å,並且<strong>EPD</strong> < 5 × 10³/cm²—可直接用於GaN LED磊晶。

晶體生長方法

比較 KY、EFG 與 HEM 三種藍寶石 α-Al₂O₃ 單晶生長路徑。KY 以最佳 C(0001) 取向提供最低 EPD,並支援更大直徑晶錠;特別適用於高品質可用於磊晶的晶圓。EFG 以成本效益的薄膜供料成長實現高產出,並聚焦 R(1-102)/A(11-20) 取向。HEM 可生長極重晶錠,缺陷密度可降至最低水準,當需要光學級材料或高性能雷射應用時尤為理想。

Kyropoulos (KY)

Kyropoulos (KY)

最適用於 C 面磊晶

晶棒直徑 Up to 300mm
EPD < 5 × 10³/cm²
最佳取向 C-plane (0001)
成本 $ – $$

KY 法可生長大直徑高品質晶錠,並提供最低 EPD,適用於 C 面 LED 磊晶。

Edge-Defined Film-Fed (EFG)

Edge-Defined Film-Fed (EFG)

成本效益 R/A 面

典型寬度 Up to 150mm ribbon
EPD < 1 × 10⁴/cm²
最佳取向 R-plane, A-plane
成本 $$

EFG 帶狀生長兼顧低成本與高產出,滿足 R/A 面材料需求。

Heat Exchanger Method (HEM)

Heat Exchanger Method (HEM)

最低 EPD,光學級

晶棒重量 Up to 200 kg
EPD < 10³/cm²
最適用於 Optics, Armor, Lasers
成本 $$$

HEM 可生長超重大晶錠,缺陷密度極低,用於光學與雷射應用。

晶體取向

選擇適合的藍寶石晶面以掌握磊晶品質與器件效能。不同晶體取向會針對性調整表面性質,應用於各類需求。

C 面(0001)

C 面是 GaN/InGaN 在藍寶石上進行磊晶的標準取向。其通常具有最低的表面能,有助於高效 LED 與功率器件。

主要用途 磊晶標準

A 面(11-20)

A 面為非極性面,可降低量子限域斯塔克效應。適用於非極性 LED 與需要提升光學效率的雷射二極體。

主要用途 非極性

圖形化藍寶石基板

PSS 透過在 C 面藍寶石表面蝕刻圓錐/金字塔微圖形,提高 GaN LED 的光提取效率

圖形週期、深度與側壁角精確可控,支援 2″–8″ 尺寸,並提供適合量產磊晶的 Epi-Ready 表面。

GINECHIP 提供標準與客製 PSS 圖形設計,搭配 <strong>Epi-Ready</strong> 表面 RMS < 2Å。

矽上藍寶石

SOS 在 R 面藍寶石上異質外延矽薄膜,絕緣基板實現低寄生電容

適用於 RF 整合電路、耐輻射器件與高溫 MEMS,9.9 eV 寬帶隙提供卓越電氣隔離

規格

參數可用範圍 / 數值
材料 Single-crystal α-Al₂O₃ (Sapphire), various grades
晶體取向 C-plane (0001), R-plane (1-102), A-plane (11-20), M-plane (10-10)
直徑 2″ (50.8mm), 3″ (76.2mm), 4″ (100mm), 6″ (150mm), 8″ (200mm)
厚度 330μm, 430μm, 650μm, 1,000μm standard
表面拋光 SSP, DSP, Epi-Ready CMP, RMS < 2Å
TTV ≤ 5μm
彎曲度 / 翹曲度 Bow ≤ 10μm, Warp ≤ 15μm for 4″ diameter
蝕刻坑密度(EPD) < 5 × 10³/cm²
硬度 9 Mohs, 2,000 kg/mm² Knoop
熱導率 40 W/m·K @ 300K
CTE 5.0–6.6 × 10⁻⁶/K (anisotropic, orientation-dependent)
熔點 2,040°C
能隙 9.9 eV (wide-bandgap optical insulator)
折射率 nₒ = 1.768, nₑ = 1.760 @ 633nm
透射範圍 150nm–5,500nm (UV-grade: 85% @ 250nm)
偏角公差 ±0.2° standard, ±0.05° precision
封裝 Class 100 cleanroom, vacuum-sealed single-wafer cassette

典型應用

💡

LED 磊晶

C面Epi-Ready表面RMS<2Å,用於GaN/InGaN LED磊晶。

🔴

雷射二極體

A/C面低缺陷基板,用於藍/紫光雷射二極體磊晶。

📡

矽在藍寶石上

R面異質外延基板,用於RF與耐輻射整合電路。

🔬

圖案化藍寶石基板

C面微圖形提升GaN LED光提取效率。

⏱️

射頻與微波

低介電損耗、寬能隙9.9 eV,用於高頻器件。

🛡️

光學視窗

150nm–5,500nm寬頻透射,用於光學視窗與雷射組件。

計量與品質管控

每一片藍寶石晶圓皆進行逐片檢測。每次出貨均附完整計量報告,確保可追溯且可直接投入應用的驗證。

XRD 結晶度 驗證單晶品質與晶體取向。
AFM 表面粗糙度 Epi-Ready CMP 表面,RMS < 2Å,適用於磊晶製程。
EPD 差排密度 蝕刻坑密度 < 5 × 10³/cm²。
平坦度與 TTV TTV ≤ 5μm、彎曲度(bow) ≤ 10μm、翹曲度(warp) ≤ 15μm。
UV-Vis-NIR 透射率 150nm–5,500nm 透射率光譜。
X 射線晶向 確認 C(0001)/R(1-102)/A(11-20)/M(10-10) 晶面與偏角 ± 0.2°。
顆粒計數 Class 100 潔淨室顆粒受控包裝。
折射率 n₀ = 1.768、nₑ = 1.760(@ 633nm)。

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ISO 9001:2015 SEMI MF1530 ASTM F47 (EPD) SEMI MF1810