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2.68M2027 年晶圓需求
L/S 0.4μmRDL 線寬/線距
300mm中介層尺寸
AR 10:1TSV 深寬比

概述

CoWoS(Chip-on-Wafer-on-Substrate,基板上晶圓上晶片)是 TSMC 的旗艦級 2.5D 先進封裝技術,已成為 AI 與 HPC 處理器的事實標準。它採用大型矽中介層(最大可達 3 倍光罩尺寸)作為邏輯晶粒(GPU/CPU)與高頻寬記憶體(HBM)堆疊之間的互連架構。中介層提供遠超有機基板所能實現的密集、細間距佈線,滿足現代 AI 加速器所需的海量資料吞吐量。

在 AI 晶片需求持續高漲的推動下,TSMC 的 CoWoS 產能需求預計將從 2026 年的 138 萬片晶圓激增至 2027 年的 268 萬片晶圓。這股爆發性成長為整個供應鏈帶來龐大商機,涵蓋矽中介層晶圓、TSV 製程與 RDL 金屬化材料——而這些正是 GINECHIP 為產業生態提供關鍵支援的領域。

關鍵技術特性

矽中介層技術

被動式矽中介層(300mm、約 100μm 厚)提供邏輯與記憶體之間的高密度佈線層。中介層具備用於垂直連接至封裝基板的矽穿孔(TSV),以及用於水平晶粒對晶粒佈線的多層 RDL。

TSV(矽穿孔)

直徑小至 10μm、深寬比達 10:1 的 TSV,提供貫穿矽中介層的垂直電性通道。TSV 中間製程(via-middle)在前段製程(FEOL)之後、後段金屬化(BEOL)之前整合導通孔,在效能與製造成本之間取得平衡。

細間距 RDL(重分佈層)

線寬/線距為 0.4/0.4μm 的多層銅 RDL 可實現密集的晶粒對晶粒互連。銅鑲嵌製程確保連接 GPU 與 HBM 晶粒之間數百條訊號所需的細間距佈線具備高良率與高可靠性。

C4 與 μ-Bump 金屬化

中介層底部的可控塌陷晶片連接(C4)凸塊與頂部的微凸塊(μ-bump)分別將中介層連接至封裝基板以及邏輯/記憶體晶粒。GINECHIP 為這些關鍵互連提供 UBM 材料與晶圓凸塊製程服務。

GINECHIP 解決方案

矽中介層晶圓

厚度薄至 100μm、表面超平坦(TTV <1μm)且電阻率精準可控的 300mm 矽晶圓,適用於 CoWoS 中介層製造。

TSV 製程服務

完整的 TSV 製程支援,包括深矽蝕刻(Bosch 製程)、側壁鈍化、阻障層/種子層沉積,以及針對直徑小至 10μm 導通孔的銅電鍍。

RDL 銅鑲嵌製程

針對線寬/線距低至 0.4/0.4μm 的細間距 RDL 提供銅鑲嵌製程,並包含 CMP 平坦化,以確保後續層堆疊所需的平坦度。

凸塊與 UBM 材料

針對 C4 與 μ-bump 製造的凸塊下金屬化(UBM)與凸塊製程服務,涵蓋 Ti/Cu、Ti/Ni/Au 及 ENIG 表面處理。

目標應用

CoWoS 是 NVIDIA H100/H200/B200 GPU、AMD MI300X 加速器、Intel Gaudi AI 處理器,以及 Google(TPU)、Amazon(Trainium)與 Microsoft 客製化 ASIC 的主要封裝平台。該技術亦支援需要高頻寬記憶體整合的 HPC CPU、網路交換器 ASIC 及 FPGA 加速器。

為您的 CoWoS 供應鏈注入動能

從矽中介層晶圓到 TSV、RDL 與凸塊製程服務,GINECHIP 是您推動 CoWoS 生產所需材料與製程的合作夥伴。

300mm 矽中介層 TSV 10μm 深寬比 10:1 RDL 線寬/線距 0.4/0.4μm C4 與 μ-Bump