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100mm – 150mm Durchmesser
AT-/ST-/BT-Schnitt Ausrichtung des Schnitts
Q > 10⁶ Q-Faktor
Frequenzstabil Temperaturstabilität
Einzelkristall-Quarzwafer sofort verfügbar — jetzt 100–150 mm Durchmesser und Schnitt-Optionen ansehen. Onlineshop
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Überblick

Quarz ist ein piezoelektrischer Kristall aus α-SiO₂. AT-geschnittene Wafer erreichen bei 25°C einen nahezu null Temperaturkoeffizienten und sorgen so für starke Frequenzstabilität. Mit Q > 10⁶ (> 2 × 10⁶ im Vakuum) eignen sie sich für leistungsstarke Oszillatoren sowie SAW/BAW-Bauteile.

Wir liefern Quarzwafer mit 100–150 mm Durchmesser und Dicken von 100 μm–500 μm, mit RMS < 0,5 nm, TTV ≤ 3 μm und Bow ≤ 15 μm. Verfügbare Oberflächen/Finishes sind u. a. SSP/DSP, geläppt und CMP. Jede Wafer wird in einer vakuumversiegelten Single-Wafer-Kassette unter Class-100-Reinraum-Bedingungen versendet.

AT-geschnitten: f ≈ 1.670/t(μm) zur Frequenzberechnung; mit nahezu null Temperaturkoeffizient für stabile Leistung bei ca. 25°C.

Vergleich AT-cut vs. ST-cut

Wählen Sie den Kristallschnitt, der zu Ihren Leistungszielen passt. Vergleichen Sie wichtige Parameter wie Wende-Temperatur, Frequenzverhalten und SAW/TCD-Eigenschaften, um Oszillatoren, Filter und Timing-Bauteile zu optimieren.

AT-cut

AT-cut (35°15′)

Frequenzstabiler Oszillator-Grade

Umkehrtemperatur ~25°C
Frequenzformel f ≈ 1,670 / t (μm)
k² ~0.11%
Am besten geeignet für Oscillators, Filters

AT-cut bietet bei ~25°C einen nahezu null Temperaturkoeffizienten. f ≈ 1,670 / t (μm); ideal für Oszillatoren und Filter.

ST-cut

ST-cut (42°45′)

Zero‑TCD SAW-Substrat

SAW-Geschwindigkeit ~3,158 m/s
TCD @ 25°C ~0 ppm/°C
k² (SAW) ~0.16%
Am besten geeignet für SAW Filters, Delay Lines

ST-cut liefert eine SAW-Geschwindigkeit von ~3.158 m/s und TCD ~0 ppm/°C bei 25°C. Am besten für SAW-Filter und Verzögerungsleitungen.

Hydrothermales Wachstum & Synthese

Synthetischer Quarz, hydrothermal in Autoklaven bei hoher Temperatur und hohem Druck gezüchtet

Natürliches Quarz, abgebaut und gesichtet; beide liefern einkristallines α‑SiO₂ mit geringer Defektdichte

GINECHIP beschafft und verarbeitet Wafer mit kontrollierter Saatkristall-Orientierung für AT/ST/BT/CT/DT/X/Y/Z-Schnitte

Frequenz- & Temperaturstabilität

Kubische Frequenz‑Temperatur‑Kurve für AT-cut: nahe 0 bei 25°C, Stabilität über -20°C bis +70°C

Q > 10⁶, bis zu 2 × 10⁶ im Vakuum; geringe Alterung für präzises Timing

SAW- & BAW-Bauteile

SAW: Oberflächenwellengeräte auf ST-cut, Geschwindigkeit ~3.158 m/s, TCD ~0 ppm/°C

BAW: Schwinger für Volumenwellen auf AT-cut, Grund- und Oberwellenmodi

Frequenzbereich 1 MHz–2,5 GHz für Oszillatoren, Filter, Resonatoren und Sensoren

Spezifikationen

ParameterVerfügbarer Bereich / Werte
Material Single-crystal α-SiO₂ (Quartz), synthetic or natural
Schnittorientierung AT-cut (35°15′), ST-cut (42°45′), BT-cut, CT-cut, DT-cut, X-cut, Y-cut, Z-cut
Durchmesser 100mm (4″), 150mm (6″)
Dicke 100μm–500μm, frequency-specific lapping
Oberflächenpolitur SSP, DSP, lapped, or CMP-finished
Oberflächenrauheit RMS < 0.5nm for polished wafers
TTV ≤ 3μm
Bow / Warp Bow ≤ 15μm
Dichte 2.65 g/cm³
Piezoelektrische Kopplung (k²) ≈ 0.11% (AT-cut fundamental mode)
Q-Faktor > 10⁶ for AT-cut, > 2 × 10⁶ in vacuum
Temperaturkoeffizient AT-cut: near-zero at 25°C (cubic frequency-temperature curve)
Frequenzbereich 1 MHz–2.5 GHz via fundamental and harmonic (overtone) modes
CTE (senkrecht zur Z-Achse) 13.7 × 10⁻⁶/K
Brechungsindex nₒ = 1.544, nₑ = 1.553 @ 589nm
Verpackung Vacuum-sealed single-wafer cassette, Class 100 cleanroom

Typische Anwendungen

📶

SAW-Filter

ST-cut-Substrate mit einer SAW-Geschwindigkeit von ~3.158 m/s und TCD von ~0 ppm/°C für Bandpassfilter und Duplexer in mobilen Anwendungen und RF-Frontends.

⏱️

Oszillatoren

AT-cut-Wafer mit nahezu null Temperaturkoeffizient bei 25°C und Q > 10⁶ für hochstabile Takt- und Referenzoszillatoren.

〰️

BAW-Resonatoren

BAW-Resonatoren (Bulk Acoustic Wave) auf AT-cut in Grund- und Oberwellenmodi, 1 MHz–2,5 GHz für Timing und Filtern.

📡

Sensoren

Piezoelektrische Quarz-Mikrowaagen und Drucksensoren mit der stabilen elektromechanischen Kopplung der AT-/ST-Schnitte.

⚡

Piezo-MEMS

Dünne Quarzplatten für piezoelektrische MEMS-Resonatoren, Gyroskope und Energiesammelgeräte mit geringen Verlusten.

🔧

Timing-Referenzen

Präzise Frequenzreferenzen für Telekommunikation, GNSS und Rechenzentren, die geringe Alterung und eine exzellente Langzeitstabilität erfordern.

Messtechnik & Qualitätskontrolle

Jede Quarzwafer von GINECHIP wird einzeln geprüft. Ein vollständiger Messbericht mit Daten zu Schnittausrichtung, Rauheit, Geometrie, Resonanz und Reinheit wird jeder Lieferung beigefügt.

Röntgen-Orientierung Röntgenbeugung überprüft die Genauigkeit der AT/ST/BT-Schnittwinkel innerhalb von ±0.02°.
AFM-Oberflächenrauheit Rasterkraftmikroskopie bestätigt RMS < 0.5 nm auf polierten Wafern.
Resonanz & Impedanz Die Impedanzanalyse prüft die Resonanzfrequenz, Q > 10⁶ sowie die Motionsparameter gegen die Konstruktionsvorgaben.
Planheit & TTV Fizeau-Interferometrie bestätigt TTV ≤ 3 μm und Bow ≤ 15 μm auf jedem Wafer.
FTIR-Analyse FTIR-Spektroskopie misst den OH-Gehalt und verifiziert die Kristallqualität für frequenzkritische Anwendungen.
ICP-MS-Reinheit ICP-MS quantifiziert Spurenelement-Metallverunreinigungen im synthetischen Quarz bis in den ppm-Bereich.
Partikelanzahl Laserscanning der Oberfläche zählt Partikel ≥ 0.3 μm; Grenzwerte sind für die Handhabung in Reinraum der Klasse 100 festgelegt.
Alpha-Partikelanzahl Alpha-Emissions-Screening stellt ein geringes Soft-Error-Risiko für die Verpackung von Speicherbausteinen sicher.

Angebot für Quarzwafer anfragen

Senden Sie Ihre individuellen Spezifikationen—Schnittorientierung, Durchmesser, Dicke und Oberflächenfinish—und unser Team erstellt Ihnen schnell ein passendes Angebot für Oszillatoren, SAW/BAW-Geräte und Timing-Anwendungen.

ISO 9001:2015 SEMI MF1530 SEMI M53 IEC 60122-1