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0.001–10,000 Ω·cm Widerstandsbereich
P / N / Intrinsic Dotierung & Typ
100μm–1000μm Orientierungen
SSP · DSP · CMP · Epi-Ready Oberflächenfinish

Übersicht

Standard-Wafer decken viele Anwendungen ab, aber bahnbrechende Bauelemente erfordern präzise angepasste Materialeigenschaften. Unser Service ermöglicht die Definition exakter Spezifikationen.

Overview Paragraph 2

Widerstands-Anpassung

Resistivity Description

ParameterVerfügbarer Bereich
Resistivity Range 0.001–10,000 Ω·cm (custom narrow bands available)
Tolerance ±5% standard, ±2% tight, ±1% ultra-tight
Radial Uniformity ≤ 3% variation (4PP, 49-point map)
P-type Dopants Boron (B) — 0.001–10,000 Ω·cm
N-type Dopants Phosphorus (P), Arsenic (As), Antimony (Sb)
Intrinsic / High-Res > 1,000 Ω·cm (FZ, neutron-transmutation doped)
Heavily Doped < 0.005 Ω·cm (N+ Sb, P+ B for epi substrates)
Measurement Method 4-point probe, eddy current, Hall effect per SEMI MF84

Resistivity Paragraph 2

Dotierungsprofil-Engineering

Doping Description

P-Typ (Bor-dotiert)

Bor-dotierte Si-Wafer für Löcherleitung. Von stark dotiert bis nahezu intrinsisch mit engen Toleranzen.

N-Typ (Phosphor/Antimon)

P- oder Sb-dotierte Si-Wafer für Elektronenleitung. Höhere Elektronenbeweglichkeit als P-Typ.

Intrinsisch / Hochohmig

Ultrahochohmiges Si (> 10 kΩ·cm) für HF-Substrate, Fotodetektoren. Minimale Absorption freier Ladungsträger.

Kristallorientierungs-Auswahl

Orientation Description

ParameterVerfügbarer Bereich
Standard Orientations 〈100〉, 〈111〉, 〈110〉
Off-Cut / Vicinal 0.5°–6.0° toward 〈110〉, 〈111〉, or 〈211〉
Tolerance ±0.1° standard, ±0.05° precision
Flat Alignment SEMI M1 primary/secondary flat or notch
Wafer ID Laser Mark SEMI T7 OCR-compatible, alphanumeric, dot-matrix

H 100Title

H 100Ul

H 111Title

H 111Ul

Orientation Paragraph 2

Dicken-Anpassung

Thickness Description

ParameterVerfügbarer Bereich
Standard Range 200μm–1000μm
Ultra-Thin 100μm–200μm (ground + stress-relieved)
TTV (Total Thickness Variation) < 2μm standard, < 1μm tight
Bow < 30μm standard, < 10μm tight
Warp < 40μm standard, < 15μm tight
Surface Roughness (Ra) < 0.5nm CMP, < 5nm DSP, < 50nm lapped

Thickness Paragraph 2

Oberflächenfinish-Optionen

Surface Finish Description

CMP-poliert

Chemisch-mechanische Planarisierung. Ein- oder beidseitig poliert mit Subnanometer-Rauheit.

  • Ra < 0.5nm (AFM, 10×10μm scan)
  • Haze < 0.2 ppm (SP1/Tencor)
  • Available single-side or double-side

Einseitig poliert (SSP)

Vorderseite poliert (< 0,5nm Ra), Rückseite geätzt oder geläppt. Kostengünstige Option.

  • Front: CMP (Ra < 0.5nm)
  • Back: bright-etched or lapped
  • SEMI M1 compliant

Beidseitig poliert (DSP)

Beide Seiten poliert. Erforderlich für MEMS, Optik und Wafer-Bonden.

  • Both sides Ra < 0.5nm
  • Improved wafer flatness
  • 200mm and 300mm available

Epi-Ready-Finish

Ultra-saubere Oberfläche für Epitaxie. Oxid < 1nm. HF-last oder Ozon-last Reinigung. In N₂-gespülter Verpackung.

  • Native oxide < 5Å (ellipsometry)
  • COP-free for high-quality epi
  • N₂-purged packaging

Geläppt / Schnittzustand

Wirtschaftliches Finish für mechanische Anwendungen und Prozessentwicklung. Rauheit 0,2–0,5μm Ra.

  • Ra 0.5–5.0μm
  • Fast delivery
  • Bulk pricing available

Rückseitenbehandlungen

Backside Description

Gettering Title

Gettering List

Dielectric Backside Title

Dielectric Backside List

Spezielle Materialgüten

Special Description

Rückseiten-Oxid / Poly-Si

Thermisches Oxid oder Poly-Si auf der Rückseite für Getterung metallischer Verunreinigungen.

Bulk Micro Defect (BMD) Engineering

Kontrollierte Sauerstoff-Präzipitation für interne Getterzentren. BMD-Dichte und Denuded-Zone-Tiefe nach Spezifikation.

Crystal Originated Particle (COP) Kontrolle

COP-freie oder COP-reduzierte Si-Wafer. Kritisch für Gate-Oxid-Integrität in CMOS und Flash-Speicher.

Anwendungen

App Item Power
App Item Rf
App Item Mems
App Item Photonics
App Item Cis
App Item Epi

Qualität & Zertifizierung

Jedes Los wird mit Analysezertifikat geliefert: Widerstandskarte, Dotierungsprüfung, XRD, Dickenkarte, Rauheitsmessung, Partikelzählung.

Quality Paragraph 2

Benötigen Sie kundenspezifische Materialspezifikationen?

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ISO 9001:2015 SEMI-Standards Vollständige Zertifizierung Kundenspezifikationen