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HF-/LeistungsplattformTechnologie
GaAs/GaN/SiCAuflösung
50–200 mmKapazität
ISO 9001:2015Zertifizierung

Übersicht

HF- und Leistungsbauelemente sind zentrale Komponenten der 5G-Kommunikation, von Radarsystemen und der Leistungssteuerung. GINECHIP bietet umfassende Substratlösungen für HF- und Leistungsbauelemente auf den Materialplattformen GaAs, GaN-on-SiC, 4H-SiC und RF-SOI — von Leistungsverstärkern für Mobiltelefone bis zu GaN-HEMTs für Basisstationen.

Wir liefern branchenführende Qualität und Präzision und stellen sicher, dass Ihre HF- und Leistungsbauelemente eine optimale Leistung erzielen.

HF-Technologie

Semi-isolierendes GaAs

Semi-isolierende Galliumarsenid-Substrate für Leistungsverstärker- und Schalter-MMICs unter 7GHz, epi-ready oder vorstrukturiert in 100mm- und 150mm-Durchmessern erhältlich.

Substrates: Semi-insulating GaAsDiameters: 100mm, 150mmPAE: 40–55% for PAsFrequency: 600MHz–6GHz (sub-7)EPD < 5×10³/cm²Epi-ready or patterned

GaN-on-SiC-HEMT

GaN-on-SiC-Epitaxie mit hoher Elektronenbeweglichkeit liefert eine Leistungsdichte von 5–10 W/mm und 50–65% PAE in Doherty-Verstärkerkonfigurationen für mmWave- und Sub-6GHz-Infrastruktur.

Substrate: GaN-on-SiC (4H, 6H)Ft/Fmax: 30/80+ GHzPower density: 5–10 W/mmPAE: 50–65% (Doherty PA)Voltage: 28V, 48V railsDiameters: 100mm, 150mm

RF-SOI (Trap-Rich)

Hochohmiges SOI mit optionaler trap-rich Grenzschicht minimiert harmonische Verzerrungen und Substratverluste für RF-Schalter- und Antennen-Tuner-ICs.

Substrate: HR-SOI (> 1kΩ·cm)R₀n·C₀ff < 200 fsHarmonics: < −80 dBm (2nd/3rd)Device layer: 50–200nmDiameters: 200mm, 300mmTrap-rich interface option

GaN-on-Si (HF)

AlGaN/GaN-HEMT-Epitaxie auf hochohmigem Silizium (111) bietet eine kostengünstigere Alternative zu GaN-on-SiC für DC–6GHz-Leistungs- und HF-Anwendungen.

Substrate: HR-Si (111)AlGaN/GaN HEMT epiFrequency: DC–6 GHzDiameters: 150mm, 200mmBuffer: AlN/AlGaN transitionLower cost vs SiC

IPD-Substrate (Integrated Passive Device)

Hoch-Q-Induktivitäten, präzise MIM-Kondensatoren und Dünnschichtwiderstände auf hochohmigem Silizium oder Glas für kompakte HF-Frontend-Anpassnetzwerke.

Substrates: HR-Si, glassInductors: Q > 40 @ 2GHzCapacitors: 0.1–100pF, ±2%MIM: Si₃N₄ or Al₂O₃ dielectricResistors: NiCr, TaN thin-filmPassivation: SiN/BCB

Leistungstechnologie

4H-SiC-Leistungssubstrate

N-leitende Siliziumkarbid-Substrate für die Fertigung von SiC-MOSFETs und -Dioden mit 650V–3,3kV, mit einer Mikropipe-Dichte unter 0,5 cm⁻² für hohe Bauteilausbeute.

Substrate: 4H-SiC (N-type)Voltage: 650V–3.3kVRDS(on): < 15 mΩ·cm² (1200V)Micropipe density < 0.5/cm²Diameters: 100mm, 150mmEpi-ready surface finish

GaN-Leistungssubstrate

200mm-Silizium-(111)-Plattform für p-GaN-Enhancement-Mode-Leistungs-HEMTs, mit 100–650V Nennspannung und Schaltfrequenzen über 1MHz.

Substrate: Si (111) 200mmVoltage: 100V–650VRDS(on): < 50 mΩ @ 650VGate: p-GaN enhancement modeSwitching: > 1 MHz capabilityCascode and e-mode options

FZ-Silizium für IGBT/Thyristor

Float-Zone-Silizium mit Neutronen-Transmutationsdotierung und ultraniedrigem Sauerstoffgehalt für die Fertigung von IGBTs, Thyristoren und Hochleistungsdioden mit 600V–6,5kV.

Substrate: FZ-Si (N-type)Voltage: 600V–6.5kV (IGBT)FZ oxygen: < 0.2 ppmaDiameters: 150mm, 200mmCustom resistivity availableNeutron transmutation doping

Materialvergleich

ParameterGaAsGaN-on-SiCRF-SOI4H-SiC
Bandlücke1.423.391.123.26
Kritisches Feld0.43.30.32.8
Beweglichkeit8,5002,000 (2DEG)1,4001,000
DefektdichteN/A~1×10¹³N/AN/A
Wärmeleitfähigkeit0.554.9 (SiC)1.54.9
Spezifischer Widerstand>10⁷>10⁵ (SiC)>1,0000.015–0.028
Max. Frequenz100+ GHz100+ GHz~6 GHzN/A (power)
ZielanwendungPA, SwitchmmWave PASwitch, TunerMOSFET, Diode

Die oben genannten Werte sind typisch; die tatsächlichen Spezifikationen hängen vom jeweiligen Produkt und den Anwendungsanforderungen ab.

Anwendungen

5G-Basisstationsinfrastruktur

GaN-on-SiC- und LDMOS-fähige Substrate treiben die hocheffizienten Verstärker für 5G-Massive-MIMO- und mmWave-Basisstationen an.

Elektrofahrzeug-Antriebsstränge

4H-SiC-MOSFET-Substrate ermöglichen höhere Schaltfrequenzen und geringere Verluste in EV-Traktionswechselrichtern und Bordladegeräten.

Satelliten- & Verteidigungsradar

GaN-on-SiC- und semi-isolierende GaAs-Substrate unterstützen die leistungsstarken Hochfrequenzverstärker in Radar- und Satellitenkommunikationssystemen.

Erneuerbare Energien & Netzstrom

SiC- und FZ-Silizium-Leistungssubstrate verbessern den Wirkungsgrad in Solarwechselrichtern, Windkraftkonvertern und netzskaligen Speichersystemen.

Smartphone-HF-Frontend

RF-SOI- und GaAs-Substrate bilden die Schalter, LNAs und Leistungsverstärker in modernen Smartphone-HF-Frontend-Modulen.

Industrielle Motorantriebe

GaN- und SiC-Leistungsbauelemente reduzieren Schaltverluste und verkleinern Passivbauteile in industriellen Motorantrieben und Netzteildesigns.

Epitaxie-Qualität

Epitaktische Schichten werden durch Photolumineszenz-Mapping, Röntgenbeugungs-Rocking-Curve-Analyse und Messung der Oberflächendefektdichte charakterisiert. Wir garantieren eine Epi-Schicht-Gleichmäßigkeit innerhalb von 2 % über den gesamten Wafer, mit einer RMS-Oberflächenrauheit unter 0,2 nm.

Lieferkette

Unser globales Lieferkettennetzwerk gewährleistet eine stabile, zuverlässige Substratversorgung. Wir haben langfristige Partnerschaften mit führenden Waferherstellern aufgebaut und halten ausreichende Lagerbestände vor, um Ihren Produktionsbedarf zu decken.

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