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2″ – 4″ Durchmesser Durchmesserbereich
SI > 10⁷ Ω·cm Halbisolierend
Epi-Ready < 2Å RMS Oberflächengüte
VGF-/LEC-Züchtung Wachstumsmethoden
Auf Lager: InP-Wafer — stöbern Sie jetzt in den Durchmessern 2″–4″ und den Dotierungsoptionen.
InP-Wafer kaufen

Übersicht

Indiumphosphid (InP) ist ein Verbindungshalbleiter mit direkter Bandlücke von 1,344 eV und hoher Elektronenbeweglichkeit von 5.400 cm²/V·s.

Wählen Sie Substratoptionen einschließlich SI mit Fe-Dotierung (>10⁷ Ω·cm), N-Typ S oder Sn sowie P-Typ Zn; verfügbar sind die Ausrichtungen (100), (111)A und (111)B mit off-cut von 2° oder 3° in Richtung (110) sowie Durchmessern von 2″–4″.

Epi-Ready-Oberflächen zielen auf einen RMS-Wert von <2Å ab, um eine starke Epitaxie-Bereitschaft zu gewährleisten; zudem sind sie konform zu SEMI M1–M13 sowie RoHS und REACH.

Epi-Ready InP-Wafer-Substrate mit EPD bis <5×10³/cm² (fortgeschrittener Werkstoffgrad).

Kristallwachstumsverfahren

Wir züchten InP mit den Techniken VGF und LEC, um unterschiedliche Anforderungen an Qualität und Epitaxie-Bereitschaft zu erfüllen.

Prime

VGF Prime

Beste Ausbeute und Qualität

Durchmesser 2″ – 4″
EPD < 5×10³ – 5×10⁴/cm²
Spezifischer Widerstand SI & doped
Anwendung Photonics / Laser

VGF (Vertical Gradient Freeze)-InP ist für eine geringe Versetzungsdichte und eine hohe Widerständigkeit ausgelegt. Es bietet den besten Ertrag und die beste Qualität für photonik- und laserbasierte Substratanwendungen, wobei EPD im Bereich von <5×10³–5×10⁴/cm² kontrolliert wird.

Volume

LEC Volume

Ausgereifte Serienfertigung

Durchmesser 2″ – 6″
EPD 5×10⁴–1×10⁵/cm²
Spezifischer Widerstand SI & doped
Anwendung Electronics / HBT

LEC (Liquid-Encapsulated Czochralski)-InP ist für ausgereifte Volumenproduktion und eine stabile Prozessführung optimiert. Es passt besonders gut für Wafer mit größerem Durchmesser; die EPD liegt typischerweise im Bereich von 5×10⁴–1×10⁵/cm² für eine gute Gesamtleistung in der Volumenfertigung.

Vergleich der Wachstumsverfahren

Vergleichen Sie VGF, LEC und das entstehende VCZ, um Ihre Priorität zu treffen — ob es um EPD-Leistung, die Zielsetzung der Widerständigkeit oder die gesamte Ausbeute für Epi-Anwendungen geht.

LEC Serienfertigung

LEC bietet eine ausgereifte Serienfertigung für größere InP-Waferdurchmesser und unterstützt skalierbare Fertigung.

LEC EPD 5×10⁴–1×10⁵/cm² Größenbereich: 2″ – 6″

Neu: VCZ-Prozess

Vapordruck-gesteuertes Czochralski (VCZ) etabliert sich für InP-Wafer mit geringerer In-Vakanzdichte und unterstützt die Anforderungen moderner photonik- und elektronischer Bauteile.

Geringere In-Vakanzdichte F&E & Pilotproduktion

Photonik- & Laseranwendungen

Indiumphosphid besitzt eine direkte Bandlücke von 1,344 eV und ermöglicht eine effiziente Lichtemission für Laserdiode und Photonik-Integrationsschaltungen in den Telekom-Wellenlängen 1310 nm und 1550 nm.

InP-Wafer unterstützen DFB-Laser, abstimmbare Laser sowie EMLs (electro-absorption modulated lasers), die in Rechenzentren, 5G-Optiktransport und in kohärenten optischen Netzwerken eingesetzt werden.

Die On-Chip-Photonik-Integration vereint Laser, Modulatoren, Wellenleiter und Photodetektoren auf einem einzelnen InP-Chip für kompakte, hochschnelle optische Module.

Eine hohe Elektronenbeweglichkeit von 5.400 cm²/V·s und geringe optische Verluste machen InP zur bevorzugten Substratwahl für 800G- und 1,6T-Optik-Transceiver.

mmWave- & Hochgeschwindigkeits-Elektronik

InP-HEMTs und -HBTs liefern bei mmWave-Frequenzen den höchsten Gewinn und die höchste Effizienz für 5G/6G, Radar- und Satellitenkommunikation.

InP-Wafer ermöglichen THz-fähige Bauelemente und extrem schnelle Mixed-Signal-Schaltungen; fT/fmax liegt bei über 300 GHz.

InP für 5G/6G, Radar & Satellit — fT/fmax über 300 GHz

Technische Spezifikationen

ParameterVerfügbarer Bereich
Durchmesser 2″ (50.8mm), 3″ (76.2mm), 4″ (100mm)
Dotierstofftyp N-type S-doped, N-type Sn-doped, SI Fe-doped, P-type Zn-doped
Spezifischer Widerstand N-type: 10⁻³–10⁻¹ Ω·cm; SI Fe-doped: > 10⁷ Ω·cm
Kristallorientierung (100), (111)A, (111)B, off-cut 2° or 3° toward (110)
Dicke 350μm, 500μm, 625μm standard (custom on request)
Oberflächenpolitur SSP, DSP, Epi-Ready — RMS < 2Å (AFM 5×5μm)
EPD (Ätzgrubendichte) < 5×10⁴/cm² (prime); < 5×10³/cm² (advanced grade)
TTV / Bow / Warp TTV < 5μm, Bow < 10μm, Warp < 15μm
Elektronenbeweglichkeit (μₑ) 5,400 cm²/V·s (N-type InP at 300K)
Bandlücke 1.344 eV (direct, zincblende structure)
Wärmeleitfähigkeit 68 W/m·K at 300K
Zuchtverfahren VGF (Vertical Gradient Freeze), LEC (Liquid-Encapsulated Czochralski)
Rückseitenbehandlung Etched, polished, or laser-marked per customer specification
Lasermarkierung SEMI M12/M13 compliant: soft-mark on front or back side
Flat-Konfiguration Per SEMI M1: EJ or US standard flat per diameter
Partikelanzahl @ 0.3μm ≤ 10 particles (laser surface scan)
Verpackung Vacuum-sealed, single-wafer shippers, Class 100 cleanroom
Normkonformität SEMI M1–M13, RoHS, REACH

Anwendungen

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Optische Kommunikation

InP-Laser und Photodetektoren versorgen Hochgeschwindigkeits-Optiknetzwerke — von Rechenzentren bis zu Unterseekabeln.

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Photodetektoren & Bildgebung

InP-Photodetektoren bieten hohe Empfindlichkeit und niedrigen Dunkelstrom für Telekommunikation, Sensorik und Bildgebung.

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Hochfrequenz-Elektronik

Eine hohe Elektronenbeweglichkeit von 5,400 cm²/V·s unterstützt HBT- und HEMT-Bauelemente für digitale und analoge Hochgeschwindigkeitsschaltungen.

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Photonische integrierte Schaltungen

Die On-Chip-Integration von Lasern, Modulatoren und Wellenleitern ermöglicht kompakte PICs für optische Module der nächsten Generation.

🧪

F&E und Quantenphotonik

InP-Substrate in Forschungsqualität unterstützen Quantenphotonik, verschränkte Photonenquellen und die Entwicklung fortschrittlicher Epitaxie.

🛰️

Satelliten & Luft- und Raumfahrt

Strahlungstolerante InP-Optoelektronik unterstützt Satelliten-Laserkommunikation und Systeme der Luft- und Raumfahrt.

Qualität & Zertifizierung

Die GINECHIP-InP-Wafer werden unter ISO 9001:2015 gefertigt, mit 100% Prüfung, und sind erhältlich, um Standards wie SEMI M1–M13 sowie RoHS/REACH-Anforderungen zu erfüllen.

Prüfung der Kristallorientierung Röntgenbeugungsprüfung für (100)/(111)A/(111)B mit Off-Cut von 2° oder 3° in Richtung (110).
Messung der Ätzgrubendichte (EPD) Grenzwerte der Ätzgrubendichte: prime <5×10⁴/cm² und advanced grade <5×10³/cm².
Geometriekontrolle der Wafer Geometrie-Spezifikationen: TTV<5μm, Bow<10μm, Warp<15μm.
AFM-Oberflächenrauheit AFM-Rauheitsgrenze: RMS <2Å bei einem 5×5μm Scan.
Widerstand und Hall-Mapping N-Typ: 10⁻³–10⁻¹ Ω·cm; SI mit Fe dotiert: >10⁷ Ω·cm.
Partikelanzahl (Laserscan) Partikelgrenze per Laserscan der Oberfläche: ≤10 Partikel @ 0.3μm.
Laser-Markierungsprüfung Für die Laser-Markierungsprüfung wird ein SEMI M12/M13-konformer Soft-Mark auf der Vorder- oder Rückseite angebracht.
Sicht- und Verpackungsprüfung Die Endprüfung (visuell und Verpackung) erfolgt in einem Class 100 Reinraum mit vakuumversiegelten Einzelwafer-Shippern.

Angebot für InP anfragen

Senden Sie Ihre individuellen Spezifikationen, dann erstellen wir ein Angebot. Übermitteln Sie Ihre Anforderungen an unser Team für eine schnelle Rückmeldung.

ISO 9001:2015 SEMI M1–M13 SI Fe-dotiert / Dotiert RoHS / REACH