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1–50μmFilmdickenbereich
2–3μm L/SAuflösung (positiv)
> 350°CThermische Stabilität (Tg)
Foto & Nicht-FotoPI-Formulierungen

Leistungsübersicht

Polyimid ist das führende Polymerdielektrikum in MEMS und Packaging. Tg > 350°C, εr ≈ 3.2–3.5.

GINECHIP bietet einen kompletten PI-Verarbeitungsservice — fotoaktiv und nicht-fotoaktiv.

Polyimid-Materialien & Verarbeitungsoptionen

Fotolithografisches Polyimid — HD-4100-Serie

Negativton, wässrig entwickelbar. HD-4100: Auflösung > 1:1, Tg > 350°C.

Ton: negativ, wässrig entwickelbarDicke: 3–20 μm (einfach)Auflösung: 5 μm (1:1)Tg > 350°C, CTE ~35 ppm/°CAushärtung: 200–375°CDurchschlagspannung > 300 V/μm

Fotolithografisches Polyimid — HD-8820

Positivton. HD-8820: 2–3 μm L/S, Feuchtigkeitsaufnahme < 0.5%.

Ton: positiv, wässrig entwickelbarDicke: 2–15 μmAuflösung: 2–3 μm L/SFeuchtigkeitsaufnahme < 0.5%Dehnung: 40–60%Elastizitätsmodul: 3.0–3.5 GPa

Nicht-fotolithografisches Polyimid

Thermoplastisch und duroplastisch. Stabil bis 500°C.

Thermoplastische und duroplastische TypenAushärtetemperatur: 250–400°CDicke: 1–50 μmCTE einstellbar: 3–50 ppm/°CVia-Definition: Trockenätzen (O₂/CF₄)Stabil bis 500°C (duroplastisch)

Haftvermittlung & Oberflächenvorbereitung

Haftvermittler AP3000/VM-652. Entfeuchtung 150°C. O₂-Plasma.

AP3000 / VM-652 HaftvermittlerGasphasen- oder Spin-Coating-AuftragEntfeuchtung: 150°C, N₂O₂-Plasmaaktivierung optionalHaftung geprüft: ASTM D3359Gitterschnitt-Haftung: Klasse 5B

Prozessablauf

01

Oberflächenvorbereitung

Entfeuchtungsbake (150°C, 5 min, N₂). O₂-Plasma-Descum. Haftvermittler (AP3000/VM-652).

02

PI-Spin-Coating

Dynamisches Dispensieren. Mehrstufen-Spin. Ziel 1–50 μm pro Schicht.

03

Soft-Bake (Vorbacken)

Backen 90–120°C (photoaktiv) oder 120–150°C (nicht photoaktiv). Rampenrate kontrolliert.

04

Fotolithografie-Musterung

UV (i-line, 365 nm) 200–500 mJ/cm². PEB 50–80°C. TMAH-Entwicklung. Oder Hardmask + Trockenätzen.

05

Plasma-Descum & Inspektion

O₂-Plasma (100–200 W). Optische Mikroskopie. CD-Messung.

06

Hard-Bake (Endaushärtung)

Programmierte Aushärtung in N₂. 25→200°C, 30 min → 350–375°C, 60 min. 4–6 h. Schrumpfung 30–50%. Imidisierung >98% (FTIR).

Qualitätsspezifikationen

ParameterZielspezifikationMessmethode
Schichtdickengleichmäßigkeit±3% innerhalb Wafer (1σ)Spektroskopische Reflektometrie / Ellipsometrie
Via-Auflösung (fotoempfindlich)3–10 μm je nach DickeREM-Querschnitt / optische Mikroskopie
Flankenwinkel45–70° (positiv), 60–85° (negativ)REM-Querschnitt
Oberflächenrauheit (Ra)< 2 nm nach AushärtungAFM (5 μm × 5 μm)
Imidisierungsgrad> 98%FTIR (C=O / C-N-Verhältnis)
Haftung5B (keine Delamination)Gitterschnitt-Test (ASTM D3359)
Durchschlagspannung> 250 V/μmDC-Rampenspannung, Au-Punktelektrode
Restspannung< 35 MPa (Zug) nach AushärtungWaferkrümmung (Stoney-Gleichung)

Spezifikationen für Standard-PI-Verarbeitung auf 100–200 mm Wafern. Individuelle Ziele auf Anfrage.

Aushärtungsprofil & Imidisierungskontrolle

Thermische Aushärtung ist der kritischste Schritt. PAA → PI. Kontrollierte Rampe 2–3°C/min.

FTIR-Kontrolle > 98% Imidisierung. Niedertemperatur-Rezepte 200–250°C für HD-4100.

Via-Öffnung & Kontaktstrukturierung

Foto-PI: Via 3–>50 μm über UV. Nicht-Foto: Hartmaske + RIE.

O₂-Plasma (100–200W) Reinigung des Via-Bodens. SEM-Kontrolle.

HAUPTANWENDUNGEN

MEMS-Passivierung

PI — Standard-Passivierung für MEMS. 2–10 μm.

Spannungspufferschicht

In Flip-Chip und WLP entkoppelt eine PI-Spannungspufferschicht (10–20 μm) die CTE-Fehlanpassung zwischen Silizium-Die und organischem Substrat und verbessert so die Lötstellen-Zuverlässigkeit bei Temperaturwechseln.

RDL-Dielektrikum

In RDL für Fan-Out WLP dient PI als Zwischenschichtdielektrikum und finale Passivierung. Mehrere PI-Schichten (3–5 μm) mit Vias zwischen Cu-RDL-Metalllagen.

Wafer-Level-Packaging

PI wird umfassend als Dielektrikum und Strukturmaterial in WLCSP eingesetzt. Bietet Isolierung, dient als Lötstoppmaske und absorbiert thermomechanische Spannungen.

Spin-Coating-Prozesskontrolle

PI-Schichtdickengleichmäßigkeit wird durch Spin-Geschwindigkeit, Dosiervolumen, Viskosität und Umgebungsbedingungen bestimmt. Unsere Spin-Coater bieten Lösungsmittel-Atmosphärenkontrolle und automatische Randwulstentfernung (EBR).

Für dicke PI-Filme (> 20 μm) werden mehrere Beschichtungs-Bake-Zyklen eingesetzt. Jede Teilschicht erhält einen partiellen Soft-Bake. Gesamtdicke bis 50 μm ohne Delamination.

Substratkompatibilität & Haftung

PI-Haftung auf dem Substrat ist der häufigste Fehlermodus. Unser Protokoll: (1) Entfeuchtungsbake, (2) Organosilan-Haftvermittler (AP3000, VM-652), (3) O₂-Plasmaaktivierung.

Haftung wird per Gitterschnitt-Test (ASTM D3359) geprüft, mindestens Klasse 5B. Zusätzlich: PCT und Thermoschock.

Bereit, PI in Ihren Prozess zu integrieren?

PI-Material, Filmdicke, Via-Geometrie, Wafer-Spezifikationen — Rezept und Angebot in 24 h.

common.iso9001 HD-4100 / HD-8820 Reinraum Klasse 5 FTIR QC