Подложки
MEMS процессы
Переработка
Аксессуары
Ресурсы
Компания
Магазин
Диаметр 2″ – 4″ Диапазон диаметров
SI > 10⁷ Ω·cm Полуизолирующий
Эпи-готово < 2Å RMS Чистота поверхности
Рост VGF / LEC Методы роста
В наличии пластины InP — сейчас ознакомьтесь с диаметрами 2″–4″ и вариантами легирования.
Купить пластины InP

Обзор

Фосфид индия (InP) — это соединительный полупроводник с прямой запрещённой зоной 1.344 eV и высокой подвижностью электронов 5,400 см²/В·с.

Выберите варианты подложек, включая SI с Fe-допированием (>10⁷ Ω·см), N-типа S или Sn и P-типа Zn; доступны ориентации (100), (111)A и (111)B с off-cut 2° или 3° в сторону (110) и диаметрами 2″–4″.

Поверхности Epi-Ready нацелены на RMS <2Å для высокой готовности к эпитаксии и соответствуют требованиям SEMI M1–M13, а также RoHS и REACH.

Готовые к эпитаксии подложки InP с EPD до <5×10³/см² (продвинутая марка).

Методы выращивания кристаллов

Мы выращиваем InP с использованием технологий VGF и LEC, чтобы поддерживать различные требования к качеству и готовности к эпитаксии.

Prime

VGF Prime

Лучшая выход и качество

Диаметр 2″ – 4″
EPD < 5×10³ – 5×10⁴/cm²
Удельное сопротивление SI & doped
Применение Photonics / Laser

InP по технологии VGF (Vertical Gradient Freeze) рассчитан на низкую плотность дислокаций и высокое удельное сопротивление. Он обеспечивает наилучшие показатели выхода и качества для применений в фотонике и лазерных подложках; EPD контролируется в диапазоне <5×10³–5×10⁴/см².

Volume

LEC Volume

Зрелое серийное производство

Диаметр 2″ – 6″
EPD 5×10⁴–1×10⁵/cm²
Удельное сопротивление SI & doped
Применение Electronics / HBT

InP по технологии LEC (Liquid-Encapsulated Czochralski) оптимизирован для зрелого серийного производства и стабильного контроля процесса. Он хорошо подходит для пластин большего диаметра: EPD обычно находится в диапазоне 5×10⁴–1×10⁵/см² для обеспечения хороших общих характеристик в серийном производстве.

Сравнение методов роста

Сравните VGF, LEC и появляющуюся технологию VCZ, чтобы соответствовать вашему приоритету — будь то производительность EPD, нацеливание по удельному сопротивлению или общая выходная доля для эпитаксиальных применений.

Серийное производство LEC

LEC обеспечивает зрелое серийное производство для больших диаметров InP-вафель, поддерживая масштабируемое производство.

LEC EPD 5×10⁴–1×10⁵/см² Размер по объёму: 2″ – 6″

Новые тенденции: процесс VCZ

Метод Чохральского с контролем давления пара (VCZ) набирает популярность для пластин InP с более низкой плотностью In-вакансий, поддерживая требования к фотонным и электронным устройствам нового поколения.

Более низкая плотность In-вакансий НИОКР и пилотное производство

Применения фотоники и лазеров

Фосфид индия (InP) имеет прямую запрещённую зону 1.344 eV, обеспечивая эффективное излучение света для лазерных диодов и фотонных интегральных схем на телекоммуникационных длинах волн 1310 nm и 1550 nm.

Пластины InP поддерживают лазеры DFB, перестраиваемые лазеры и EML (лазеры с электропоглощаемой модуляцией), применяемые в дата-центрах, оптическом транспорте 5G и в когерентных оптических сетях.

Бортовая (on-chip) фотонная интеграция объединяет лазеры, модуляторы, волноводы и фотодетекторы на одном чипе InP, обеспечивая компактные высокоскоростные оптические модули.

Высокая подвижность электронов 5,400 cm²/V·s и низкие оптические потери делают InP подложкой выбора для оптических трансиверов 800G и 1.6T.

ммВолны и высокоскоростная электроника

HEMT и HBT на InP обеспечивают наивысший коэффициент усиления и эффективность на частотах ммВолнового диапазона для 5G/6G, радиолокации и спутниковой связи.

Пластины InP позволяют создавать приборы с возможностью работы в диапазоне THz и сверхвысокоскоростные схемы смешанных сигналов; fT/fmax — более 300 ГГц.

InP для 5G/6G, радиолокации и спутников — fT/fmax более 300 ГГц

Технические характеристики

ПараметрДоступный диапазон
Диаметр 2″ (50.8mm), 3″ (76.2mm), 4″ (100mm)
Тип легирования N-type S-doped, N-type Sn-doped, SI Fe-doped, P-type Zn-doped
Удельное сопротивление N-type: 10⁻³–10⁻¹ Ω·cm; SI Fe-doped: > 10⁷ Ω·cm
Кристаллографическая ориентация (100), (111)A, (111)B, off-cut 2° or 3° toward (110)
Толщина 350μm, 500μm, 625μm standard (custom on request)
Полировка поверхности SSP, DSP, Epi-Ready — RMS < 2Å (AFM 5×5μm)
EPD (плотность ямок травления) < 5×10⁴/cm² (prime); < 5×10³/cm² (advanced grade)
TTV / Bow / Warp TTV < 5μm, Bow < 10μm, Warp < 15μm
Подвижность электронов (μₑ) 5,400 cm²/V·s (N-type InP at 300K)
Ширина запрещённой зоны 1.344 eV (direct, zincblende structure)
Теплопроводность 68 W/m·K at 300K
Методы роста VGF (Vertical Gradient Freeze), LEC (Liquid-Encapsulated Czochralski)
Обработка обратной стороны Etched, polished, or laser-marked per customer specification
Лазерная маркировка SEMI M12/M13 compliant: soft-mark on front or back side
Конфигурация среза Per SEMI M1: EJ or US standard flat per diameter
Количество частиц @ 0.3μm ≤ 10 particles (laser surface scan)
Корпусировка Vacuum-sealed, single-wafer shippers, Class 100 cleanroom
Соответствие стандартам SEMI M1–M13, RoHS, REACH

Применения

📡

Оптические коммуникации

Лазеры InP и фотодетекторы обеспечивают питание высокоскоростных оптических сетей — от дата-центров до подводных кабелей.

📷

Фотодетекторы и визуализация

Фотодетекторы InP обеспечивают высокую чувствительность и низкий темновой ток для телекоммуникаций, сенсорных и систем визуализации.

⚡

Высокочастотная электроника

Высокая подвижность электронов 5,400 cm²/V·s поддерживает устройства HBT и HEMT для высокоскоростных цифровых и аналоговых схем.

〰️

Фотонные интегральные схемы

Интеграция лазеров, модуляторов и волноводов на одном кристалле позволяет создавать компактные PIC для оптических модулей нового поколения.

🧪

НИОКР и квантовая фотоника

Подложки InP исследовательского класса поддерживают квантовую фотонику, источники запутанных фотонов и разработку передовых эпитаксиальных технологий.

🛰️

Спутники и аэрокосмос

Радиационно-стойкая оптоэлектроника на основе InP поддерживает лазерную спутниковую связь и аэрокосмические системы.

Качество и сертификация

Пластины InP от GINECHIP производятся по стандарту ISO 9001:2015 с 100% контролем качества и доступны для соответствия стандартам SEMI M1–M13, а также требованиям RoHS/REACH.

Проверка кристаллографической ориентации Проверка рентгеновской дифракцией для (100)/(111)A/(111)B с оффсетом 2° или 3° в направлении (110).
Измерение плотности травильных ямок (EPD) Предельные значения плотности травильных ямок: prime <5×10⁴/см² и advanced grade <5×10³/см².
Контроль геометрии пластины Геометрические требования: TTV<5μm, Bow<10μm, Warp<15μm.
Шероховатость поверхности по AFM Предел шероховатости по AFM: RMS <2Å на скане 5×5μm.
Картирование удельного сопротивления и Холла N-тип: 10⁻³–10⁻¹ Ω·см; SI с легированием Fe: >10⁷ Ω·см.
Подсчет частиц (лазерный скан) Лимит по числу частиц по лазерному сканированию поверхности: ≤10 частиц @ 0.3μm.
Проверка лазерной маркировки Маркировка soft-mark, соответствующая SEMI M12/M13, наносится на лицевую или обратную сторону для проверки лазерной маркировки.
Визуальный и упаковочный контроль Окончательный визуальный контроль и проверка упаковки выполняются в чистой комнате Class 100 с помощью вакуумно запечатанных однопластинчатых шипперов.

Запросить коммерческое предложение на InP

Сообщите ваши индивидуальные спецификации, и мы подготовим предложение. Передайте требования нашей команде для быстрого ответа.

ISO 9001:2015 SEMI M1–M13 SI Fe-легированный / Легированный RoHS / REACH