Подложки
MEMS процессы
Переработка
Аксессуары
Ресурсы
Компания
Магазин
50mm – 200mm Диапазон диаметров
ИК-пропускание 2–14μm Пропускание ИК-излучения
μₑ = 3900 cm²/V·s Подвижность электронов
Рост CZ / VGF Методы роста
Пластины из германия в наличии — сейчас выбирайте диаметры 50–200 мм и варианты легирования.
Купить пластины из германия

Обзор подложек из германия

Германий (Ge) — полупроводник IV группы с непрямой шириной запрещенной зоны 0.66 eV и высокой подвижностью электронов 3,900 см²/V·с, что делает его идеальным для инфракрасной оптики и высокоскоростной электроники.

Выбирайте марки N-типа (Sb), P-типа (Ga) или собственные (не легированные) с диаметрами 50–200 мм, ориентациями (100), (111) и (110), а также вариантами финишной обработки поверхности — от SSP/DSP до Epi-Ready — с RMS <2Å.

Чистота 5N+ , EPD < 5×10³/см² и поверхности Epi-Ready для требовательных задач в ИК-диапазоне и эпитаксии.

Методы выращивания кристаллов

Мы выращиваем германий с использованием методик Чохральского (CZ) и VGF, чтобы поддерживать различные требования к качеству кристалла, диаметру и эффективности производства.

Чохральский (CZ)

Рост по методу CZ является стандартом для высокопроизводительного производства германия: он обеспечивает слитки большого диаметра до 200 мм с равномерным допированием и стабильным качеством для оптики и электроники.

Рост VGF

VGF (Vertical Gradient Freeze) обеспечивает более низкую плотность дислокаций и улучшенную однородность для специальных подложек, используемых в эпитаксии и высокопроизводительных применениях.

Инфракрасная передача

Германий передает излучение в широком диапазоне 2–14 μm при показателе преломления примерно 4,0, что делает его одним из самых широко используемых материалов для инфракрасной оптики.

Высокий показатель преломления и низкая дисперсия позволяют создавать компактные конструкции линз для тепловизионной съемки, систем FLIR и оптики лазера CO₂ на 10,6 μm.

  • Окно передачи 2–14 μm, охватывающее диапазоны MWIR и LWIR.
  • Высокий показатель преломления (n ≈ 4,0) позволяет создавать компактные высокоэффективные оптические системы.
  • ~47% двухстороннее пропускание, ограниченное только отражением Френеля (без покрытия).
  • Доступны AR-покрытия (включая DLC) для повышения пропускания и долговечности.

ИК-пропускание по диапазону длин волн

Диапазон длин волнПропусканиеДиапазон
2.0 – 3.0 μm ~47% (two-surface reflection limited) Средневолновый (короткий)
3.0 – 5.0 μm ~47% (intrinsic transparency) Средневолновое окно
8.0 – 12.0 μm ~47% (intrinsic transparency) Длинноволновое окно
10.6 μm ~47% (CO₂ laser line) Линия лазера CO₂
12.0 – 14.0 μm > 40% (multiphonon edge begins) Удлинённый длинноволновый диапазон

Значения типичны для непокрытых подложек с двусторонней полировкой; оптика с AR-покрытием может обеспечивать пропускание более 97%.

Солнечные элементы и фотогальваника

Германий — подложка выбора для многопереходных III-V солнечных элементов: его ширина запрещённой зоны 0,66 eV дополняет переходы GaAs и InGaP для максимальной эффективности преобразования.

Германий космического класса обеспечивает низкую ЭПД, точную ориентацию и термостабильность, необходимые для систем питания спутников.

Пластины из германия также поддерживают наземную концентраторную фотоэлектрическую генерацию (CPV) с подтвержденной надежностью и масштабируемостью производства.

SiGe и высокоскоростная электроника

Эпитаксия кремний-германия (SiGe) на подложках из германия позволяет создавать биполярные транзисторы с гетеропереходом (HBT) с fT/fmax более 500 ГГц для высокоскоростных цифровых и РЧ-приложений.

Платформы Ge и germanium-on-insulator (GOI) по-прежнему обеспечивают создание передовых КМОП и фотонных интегральных схем для вычислений следующего поколения и оптических межсоединений.

Детектирование излучения

Высокочистый германий (HPGe) обеспечивает превосходное энергетическое разрешение для гамма-спектроскопии, что делает его эталонным материалом для ядерной физики и мониторинга радиации.

Германий поддерживает литий-дрейфованные детекторы Ge(Li) и планарные детекторы, используемые в системах сканирования безопасности, медицинской визуализации и мониторинге окружающей среды.

Технические характеристики

ПараметрДоступный диапазон
Материал Single-crystal Germanium (Ge), 5N+ purity
Диаметр 50mm, 100mm, 150mm, 200mm
Тип легирования N-type (Sb-doped), P-type (Ga-doped), Intrinsic (undoped)
Удельное сопротивление N-type: 0.01–40 Ω·cm, P-type: 0.01–30 Ω·cm, Intrinsic: > 40 Ω·cm
Ориентация (100), (111), (110), off-cut ±0.5°
Толщина 200μm–1000μm, standard SEMI thicknesses
Полировка поверхности SSP, DSP, Epi-Ready, RMS < 2Å
EPD (плотность ямок травления) < 5×10³/cm²
TTV / Прогиб / Коробление TTV < 5μm, Bow < 15μm, Warp < 20μm
Ширина запрещённой зоны 0.66 eV (indirect)
Подвижность электронов 3,900 cm²/V·s
Подвижность дырок 1,900 cm²/V·s
Диапазон ИК-пропускания 2–14μm, n ≈ 4.0
Показатель преломления 4.003 @ 10.6μm (CO₂ laser wavelength)
Теплопроводность 60 W/m·K
Плотность 5.323 g/cm³
Упаковка Vacuum-sealed, single-wafer shippers, Class 100

Применения

🔭

ИК-оптика и тепловизионная съемка

Высокий показатель преломления (n ≈ 4.0) и пропускание 2–14 μm делают германий стандартным материалом для инфракрасных линз, окон и систем тепловизионной съемки.

☀️

Солнечные элементы и фотовольтаика

Подложки из германия поддерживают многопереходные солнечные элементы III-V для космических и наземных установок концентраторной фотоэлектрики.

⚡

Сверхбыстрая электроника

Высокая подвижность электронов (3,900 см²/В·с) и гетероэпитаксия SiGe обеспечивают высокоскоростные цифровые схемы, радиочастотные устройства и фотонные межсоединения.

☢️

Детектирование излучения

Высокочистый германий (HPGe) обеспечивает выдающееся энергетическое разрешение для гамма-спектроскопии, мониторинга ядерных объектов и систем безопасности.

📡

Спутники и аэрокосмос

Устойчивые к радиации подложки из германия поддерживают солнечные батареи спутников, ИК-оптику и аэрокосмические оптоэлектронные системы.

🔬

НИОКР и специализированные подложки

Параметры на заказ по ориентации, легированию и толщине поддерживают исследования в области фотоники, квантовых технологий и передовых полупроводниковых устройств.

Качество и сертификация

Пластины из германия GINECHIP производятся по ISO 9001:2015 с 100% контролем и могут соответствовать стандартам SEMI M1–M13, а также требованиям RoHS/REACH.

Проверка кристаллографической ориентации Проверка методом рентгеноструктурного анализа для (100), (111) и (110) с off-cut ±0,5°.
Измерение плотности травильных ямок (EPD) Предельная плотность травильных ямок: < 5×10³/см².
Контроль геометрии пластины Геометрические характеристики: TTV<5μm, Bow<15μm, Warp<20μm.
Шероховатость поверхности по AFM Предел шероховатости по данным AFM: RMS <2Å на скане 5×5μm.
Картирование удельного сопротивления и Холла N-тип: 0.01–40 Ω·cm; P-тип: 0.01–30 Ω·cm; Собственный: > 40 Ω·cm.
Подсчет частиц (лазерный скан) Лимит по числу частиц по лазерному сканированию поверхности: ≤10 частиц @ 0.3μm.
Проверка лазерной маркировки Маркировка soft-mark, соответствующая SEMI M12/M13, наносится на лицевую или обратную сторону для проверки лазерной маркировки.
Визуальный и упаковочный контроль Финальный визуальный и упаковочный контроль выполняется в чистой зоне класса 100 с помощью вакуумно запечатанных одновафельных шипперов.

Запросить коммерческое предложение на германий

Сообщите ваши индивидуальные спецификации, и мы подготовим предложение. Передайте требования нашей команде для быстрого ответа.

ISO 9001:2015 Чистота 5N+ Эпи-готово <2Å RoHS / REACH