Подложки
MEMS процессы
Переработка
Аксессуары
Ресурсы
Компания
Магазин
UCIe 2.0Стандарт межсоединений
L/S 0.4μmRDL интерпозера
>9×Преодоление предела ретикла
40%Снижение затрат

Обзор

Архитектура чиплетов — ответ полупроводниковой отрасли на завершение масштабирования по закону Мура. Вместо создания монолитной системы на кристалле (SoC), которая должна умещаться в пределах одного ретикла, проектировщики разделяют систему на меньшие функциональные блоки (чиплеты), каждый из которых изготавливается на оптимальном технологическом узле, а затем собирают их обратно на кремниевом интерпозере с помощью 2.5D-упаковки. Такой подход обеспечивает больший эффективный размер кристалла, гетерогенную интеграцию логики, памяти и I/O, а также повышает выход годных за счёт замены одного крупного кристалла несколькими меньшими.

2.5D-упаковка обеспечивает физическую структуру межсоединений, делающую возможной интеграцию чиплетов. Кремниевый интерпозер с мелкошаговым RDL (L/S 0.4/0.4μm) и TSV служит мостом высокой плотности между чиплетами. Стандарт UCIe (Universal Chiplet Interconnect Express) определяет интерфейс «кристалл-к-кристаллу», при этом UCIe 2.0 поддерживает до 40 Gbps на линию. Отрасль быстро внедряет этот подход — AMD, Intel, Apple и NVIDIA используют дизайны на основе чиплетов в своих последних продуктах.

Ключевые технологические особенности

Дисагрегация кристаллов

Крупные SoC разделяются на вычислительные кристаллы, контроллеры памяти, кристаллы I/O и специализированные ускорители. Каждый чиплет изготавливается на оптимальном технологическом узле — передовая логика для вычислений, зрелые узлы для I/O и специализированные процессы для аналоговых/RF-решений.

Трассировка кремниевого интерпозера

Кремниевый интерпозер обеспечивает высокоплотную разводку между кристаллами: многослойный RDL позволяет создавать тысячи параллельных соединений между чиплетами. Мелкие L/S 0.4/0.4μm поддерживают плотность пропускной способности, требуемую UCIe и другими протоколами «кристалл-к-кристаллу».

Соответствие стандарту UCIe

UCIe 2.0 определяет варианты стандартной и передовой упаковки со скоростью линии до 40 Gbps. Физический уровень задаёт шаг бампов от 25–55μm для передовой упаковки и 100–130μm для стандартной, что обеспечивает широкий спектр сценариев интеграции чиплетов.

Процесс сборки 2.5D

Процесс сборки включает монтаж кристалла (chip-on-wafer), подслойку (underfill), овермолдинг, формирование бампов C4 и разделение на кристаллы. GINECHIP поддерживает критически важные процессы на уровне пластины, включая изготовление RDL, обработку TSV и бампинг, которые обеспечивают процесс интеграции 2.5D.

Решения GINECHIP

Пластины-интерпозеры

Кремниевые пластины с высоким удельным сопротивлением для изготовления интерпозеров, с жёстким TTV (<1μm), низкой деформацией и точным контролем удельного сопротивления для оптимальных электрических характеристик.

Обработка RDL

Изготовление многослойного медного RDL с L/S вплоть до 0.4/0.4μm, включая осаждение диэлектрика, литографию, гальваническое нанесение меди и CMP-планаризацию.

Услуги бампинга

Формирование μ-bump и бампов C4 для соединений «чиплет-интерпозер» и «интерпозер-подложка», с шагом вплоть до 40μm для передовой упаковки.

Фиктивные и тестовые пластины

Фиктивные пластины и пластины для механических испытаний для разработки процессов и квалификации оборудования на линиях сборки 2.5D, доступны во всех стандартных диаметрах.

Целевые применения

Дизайны на основе чиплетов сегодня стали мейнстримом в серверных CPU (AMD EPYC, Intel Xeon), ИИ-ускорителях (NVIDIA B200, AMD MI300X), клиентских процессорах (Apple серии M, Intel Meteor Lake) и сетевых ASIC. Этот подход также набирает популярность в автомобильных SoC, где сочетание зрелых автомобильных квалифицированных узлов с передовой логикой обеспечивает оптимальный баланс производительности, надёжности и стоимости.

Реализуйте ваш чиплетный дизайн

От пластин-интерпозеров до RDL, бампинга и тестовых пластин — GINECHIP предоставляет полный портфель подложек и процессов для вашей 2.5D-интеграции на основе чиплетов.

Совместимость с UCIe 2.0 μ-Bump с шагом 40μm TTV интерпозера <1μm RDL L/S 0.4/0.4μm