Подложки
MEMS процессы
Переработка
Аксессуары
Ресурсы
Компания
Магазин
Моно- / малослойный CVD монослойный графен
Up to 150mm Макс. 150 мм
Rs 200–600 Ω/sq Сопротивление листа: 200–600 Ом/кв.
Trans. > 97% Оптическое пропускание: > 97% при 550 нм
Графен на подложках — в наличии
Открыть магазин

Обзор

GINECHIP поставляет графеновые тонкие пленки после переноса на подложку, адаптированные для оптики, электрических свойств и прототипирования устройств.

Выберите однослойный (> 95% покрытия), двухслойный, малослойный (3–5 слоев) или rGO (Reduced GO) на SiO₂/Si (90нм/285нм/300нм оксид), сапфире, кварце, PET, PEN или на Cu-фольге (как выращено) — до 4″ (100мм) и 6″ (150мм).

Целевые показатели включают <strong>сопротивление листа 200–600 Ом/кв.</strong> и <strong>оптическое пропускание > 97% при 550 нм</strong>.

Рост методом CVD

Мы выращиваем графен на медной фольге с помощью контролируемого процесса CVD, рассчитанного на однослойные, двухслойные и малослойные результаты, с контрольными точками качества на каждом этапе.

  1. Подготовка Cu-фольги и высокотемпературный отжиг для стабилизации поверхности катализатора.
  2. Разложение источника углерода на поверхности меди для формирования однослойного графена.
  3. Контролируемое охлаждение для сохранения качества и равномерности слоев.
  4. Первичная проверка качества пленки перед переносом.

Рост CVD проектируется для стабильного покрытия графеном и достижения электрических/оптических характеристик на целевых подложках.

Процесс переноса

После роста графен переносят с Cu на выбранные подложки с использованием мокрого или сухого метода, чтобы соответствовать требованиям вашего устройства.

Мокрый перенос

Используется слой поддержки PMMA; затем выполняется травление Cu и очистка подложки, чтобы получить графеновую пленку на целевых пластинах.

Сухой перенос

Подход на основе термовыделяющей ленты / PDMS позволяет перенести графен без операций мокрого травления, поддерживая контролируемое обращение для чувствительных стеков устройств.

Выберите маршрут переноса под ваше окно процесса: мокрый — для отработанных потоков, сухой — для более бережного обращения. Цель — получить равномерный графен на выбранных подложках.

Характеризация и контроль качества

Перед отгрузкой для каждой партии выполняется проверка <strong>количества слоёв</strong>, <strong>оптического пропускания</strong>, <strong>сопротивления квадрату (sheet resistance)</strong> и <strong>структурной однородности</strong>, чтобы обеспечить стабильные характеристики графена на подложках.

Рамановская спектроскопия

Качество однослойного графена подтверждается по параметрам Рамана: I₂D/I_G > 2 и FWHM 2D-пика 25–35 см⁻¹, что поддерживает надёжную идентификацию однослойного покрытия по всей подложке.

Атомно-силовая микроскопия (AFM)

Качество поверхности контролируется по показателю RMS-шероховатости < 0,3 нм. После переноса сохраняется чистота для поддержки последующей интеграции в технологический процесс.

Электрические характеристики

Транспорт носителей в графене демонстрируется значением подвижности в FET 1 000–5 000 см²/В·с на SiO₂/Si, что поддерживает высококачественное поведение канала для применений прозрачной электроники.

Графен vs. ITO vs. серебряные нанопроволоки

Если вам нужна сверхтонкая прозрачность с контролируемым сопротивлением квадрату, графен предлагает аллотропное углеродное решение вместо традиционных прозрачных проводников, таких как <strong>ITO</strong> и <strong>серебряные нанопроволоки</strong>, при этом обеспечиваются подтверждённые оптические и электрические характеристики для интеграции в производственный процесс.

ПараметрГрафен (CVD, монослой)ITO (In₂O₃:Sn)Сеть серебряных нанопроволок
Материал Graphene (CVD monolayer) ITO (In₂O₃:Sn) Ag Nanowire Network
Поверхностное сопротивление 200–600 Ω/sq 10–50 Ω/sq 10–100 Ω/sq
Прозрачность (550nm) > 97% 85–92% 85–92%
Гибкость Excellent (bend radius < 1mm) Poor (brittle, cracks at ~2% strain) Good (bend radius ~3mm)
Механическая прочность Outstanding (tensile strength 130 GPa) Fragile (ceramic, low fracture toughness) Moderate (corrosion-prone)
Химическая стабильность Excellent (inert, acid/base resistant) Moderate (acid-sensitive, In leaching) Poor (Ag oxidation/sulfidation)
Теплопроводность ~5,000 W/m·K (in-plane) ~10 W/m·K ~30 W/m·K
Доступность сырья Carbon: abundant, low cost Indium: critical raw material, supply risk Silver: precious metal, price volatility
Температура процесса CVD at ~1,000°C; transfer at RT Sputter deposition at 200–400°C Solution coating, anneal at 120–200°C
Масштабируемость Wafer-scale demonstrated (150mm); roll-to-roll emerging Mature; large-area sputtering established Roll-to-roll compatible; limited uniformity
Оптимально для Flexible, transparent, high-frequency; 2D heterostructures Rigid touch screens, LCDs, low-cost TCO Flexible touch, EMI shielding, heaters

Применения

📱

Гибкие дисплеи и носимые устройства

Однослойный/двухслойный/немногослойный графен, перенесённый на выбранные подложки, обеспечивает высокую оптическую прозрачность и равномерное покрытие для гибких прозрачных электронных устройств.

🧬

Биосенсоры

Платформы «графен на подложке» поддерживают чувствительное взаимодействие с поверхностью. Выбор типа слоя (однослойный, двухслойный, 3–5 слоёв) позволяет настроить электрохимический отклик.

⚡

Высокочастотные / радиочастотные устройства

Настраиваемые электрические характеристики: <strong>для перенесённого монослоя</strong> удельное поверхностное сопротивление 200–600 Ω/□. Это поддерживает прототипирование RF-устройств, где критичны однородность и проводимость.

🔋

Энергетическое хранение и аккумуляторы

Графен и rGO на спроектированных подложках образуют проводящие и поверхностно-активные слои для электродов и межслойных структур, помогая обеспечивать воспроизводимое изготовление на распространённых размерах пластин (до 6″).

🔬

Исследования гетероструктур на основе 2D

Выбирайте тип графена (монослой >95% покрытия, двухслойный, 3–5 слоёв, rGO) и варианты подложек (SiO₂/Si, сапфир, кварц, PET/PEN, медная фольга как grown), чтобы строить контролируемые структуры и изучать интерфейсы.

🧪

Газовые и химические сенсоры

Восстановленный GO (rGO) и многослойный графен на стабильных подложках поддерживают сенсинг, основанный на адсорбции. Целевая однородность по данным <strong>Raman mapping</strong> — >95% — помогает обеспечить стабильность отклика.

Технические характеристики

ПараметрДоступный диапазон
Тип графена Monolayer (> 95% coverage), Bilayer, Few-layer (3–5 layers), Reduced GO (rGO)
Варианты подложек SiO₂/Si (90nm/285nm/300nm oxide), Sapphire, Quartz, PET, PEN, Cu foil (as-grown)
Размер пластины Up to 4″ (100mm), 6″ (150mm), custom sizes
Метод роста CVD CVD on Cu foil, transfer to target substrate
Покрытие > 95% monolayer by Raman mapping
Поверхностное сопротивление 200–600 Ω/sq (monolayer, transferred)
Оптическое пропускание > 97% at 550nm (monolayer)
Соотношение I₂D/I_G по Раману > 2 for monolayer; < 0.5 D/G
FWHM 2D-пика 25–35 cm⁻¹ for monolayer, Lorentzian fit
Подвижность (FET) FET mobility: 1,000–5,000 cm²/V·s on SiO₂/Si
Уровень легирования As-transferred: p-type 10¹²–10¹³ cm⁻²
Размер зерна 10–50μm (standard CVD), up to 1mm (optimized)
Шероховатость поверхности Conforms to substrate; Si/SiO₂ roughness < 0.3nm RMS after transfer
Остатки PMMA minimized, thermal annealing available for cleaner surface
Упаковка Vacuum-sealed, desiccant pack, Class 100

Качество и сертификация

Гарантия качества поддерживается производственным контролем и документацией: <strong>однослойный графен с покрытием &gt; 95%</strong>, <strong>сопротивление квадрату 200–600 Ом/кв</strong>, <strong>оптическое пропускание &gt; 97% на 550 нм</strong>, <strong>размер зерна 10–50 мкм (до 1 мм)</strong> и <strong>шероховатость поверхности &lt; 0,3 нм RMS</strong>. Упаковка — <strong>Class 100</strong>, при наличии <strong>ISO 9001:2015</strong> и <strong>соответствия RoHS/REACH</strong>.

Характеризация методами Рамановской спектроскопии Подтверждение слоистости и проверка покрытия с помощью Raman mapping; цель — <strong>монослой >95%</strong> покрытия.
Измерение поверхностного сопротивления Контроль электрического качества по поверхностному сопротивлению: для перенесённого монослоя указано <strong>200–600 Ω/□</strong>.
Испытание оптической прозрачности Оценка прозрачности при <strong>550 нм</strong>; для монослоя задано <strong>>97%</strong> оптической передачи.
AFM (атомно-силовая микроскопия) Характеризация рельефа поверхности и шероховатости для поддержки равномерного переноса и «готовой к устройствам» поверхности.
SEM (сканирующая электронная микроскопия) Проверка методом SEM-сканирования для подтверждения сплошности пленки, структуры зерен и качества переноса.
Подвижность носителей по эффекту Холла Измерение подвижности в FET для обеспечения подвижности графена в диапазоне <strong>1,000–5,000 cm²/V·s</strong>.
Анализ химических состояний методом XPS XPS определяет <strong>соотношение C/O</strong>, функциональные группы и остаточные загрязнения для поддержки стабильной работы устройств.
Обнаружение частиц и дефектов Проверка чистоты и дефектов поверхности пленки для выявления частиц и дефектов, которые могут повлиять на выход процесса.

Запросить коммерческое предложение / настроить спецификацию

Расскажите о вашем применении и целевых требованиях. Мы приглашаем вас <strong>запросить индивидуальное решение graphene-on-substrate</strong>.

ISO 9001:2015 Монослой подтверждён по Раману (>95%) Упаковка в чистой комнате класса 100 RoHS / REACH