מצעים
תהליכי MEMS
עיבוד מחדש
אביזרים
משאבים
חברה
חנות
חד-שכבתי / מעט שכבתי גרפן CVD חד-שכבתי
Up to 150mm עד 150 מ"מ
Rs 200–600 Ω/sq התנגדות גיליון: 200–600 Ω/□
Trans. > 97% העברת אור: > 97% ב-550 נ״מ
גרפן על מצעים — במלאי
עיון בחנות

סקירה

GINECHIP מספק סרטי גרפן דקים לאחר העברה למצע, מותאמים לאופטיקה, תכונות חשמליות ובניית אבטיפוס למכשירים.

אפשר לבחור שכבה יחידה (>95% כיסוי), שכבה כפולה, שכבות מעטות (3–5 שכבות) או rGO (Reduced GO) על SiO₂/Si (90nm/285nm/300nm אוקסיד), ספיר, קוורץ, PET, PEN או Cu-foil במצב as-grown — עד 4″ (100mm) ו-6″ (150mm).

יעדי הביצועים כוללים <strong>התנגדות גיליון 200–600 Ω/□</strong> ו-<strong>העברת אור > 97% ב-550 נ״מ</strong>.

גידול CVD

אנחנו מגדלים גרפן על נייר כסף מנחושת באמצעות תהליך CVD מבוקר, שמטרתו לתמוך בתוצאות של שכבה יחידה, שכבה כפולה ומעט שכבות, עם נקודות בקרה בכל שלב.

  1. הכנת נייר כסף מנחושת ואנייל בטמפרטורה גבוהה לייצוב פני הקטליזטור.
  2. פירוק מקור הפחמן על פני הנחושת ליצירת גרפן בשכבה יחידה.
  3. קירור מבוקר לשמירה על איכות השכבה והאחידות.
  4. בדיקת איכות ראשונית של הסרט לפני העברה.

גידול ה-CVD מתוכנן להשגת כיסוי גרפן עקבי וביצועים חשמליים/אופטיים על המצע היעד.

תהליך העברה

לאחר הגידול, גרפן מועבר מ-Cu למצע הנבחר באמצעות מסלולי העברה רטובים או יבשים, בהתאם לדרישות המכשיר שלך.

העברה רטובה

נעשה שימוש בשכבת תמיכה של PMMA; לאחר מכן מבצעים חריטה של Cu, ואחריה ניקוי המצע כדי לקבל את סרט הגרפן על פרוסות היעד.

העברה יבשה

גישה מבוססת סרט תרמי-משחרר / PDMS מעבירה את הגרפן ללא שלבי חריטה רטובה, ותומכת בטיפול מבוקר עבור סטאקים רגישים של מכשירים.

בחר את מסלול ההעברה שמתאים לחלון התהליך שלך: רטוב לתהליכים מבוססים, יבש לטיפול עדין יותר — במטרה להשיג גרפן אחיד על המצע שבחרת.

אפיון ובקרת איכות

לפני המשלוח, כל אצווה נבדקת כדי לוודא <strong>מספר שכבות</strong>, <strong>שקיפות אופטית</strong>, <strong>התנגדות יריעה</strong> ו<strong>אחידות מבנית</strong>, וכך להבטיח ביצועי גרפן יציבים על גבי מצעים.

ספקטרוסקופיית ראמאן

איכות גרפן בשכבה אחת מאומתת לפי מדדי ראמאן: I₂D/I_G > 2 עם FWHM של פס 2D בטווח 25–35 cm⁻¹, לתמיכה בזיהוי חד-שכבתי אמין על פני כל המצע.

ניתוח פני שטח ב-AFM

איכות פני השטח נשלטת באמצעות חוסר אחידות RMS < 0.3 nm. לאחר ההעברה נשמר ניקיון כדי לתמוך באינטגרציה בתהליכים הבאים.

ביצועים חשמליים

הולכת המטענים בגרפן מוצגת באמצעות ניידות FET של 1,000–5,000 cm²/V·s על גבי SiO₂/Si, התומכת בהתנהגות ערוץ איכותית לאפליקציות של אלקטרוניקה שקופה.

גרפן מול ITO מול ננו-חוטי כסף

כשנדרשת שקיפות דקה במיוחד עם התנגדות יריעה שניתן לשלוט בה, גרפן מציע חלופה מבוססת פחמן למוליכים שקופים קונבנציונליים כמו <strong>ITO</strong> ו<strong>ננו-חוטי כסף</strong>—עם אימות חזק של תכונות אופטיות וחשמליות לצורך שילוב במצע מוכן לתהליך.

פרמטרגרפן (CVD חד-שכבתי)ITO (In₂O₃:Sn)רשת ננו-חוטי כסף
חומר Graphene (CVD monolayer) ITO (In₂O₃:Sn) Ag Nanowire Network
התנגדות יריעה 200–600 Ω/sq 10–50 Ω/sq 10–100 Ω/sq
שקיפות (550nm) > 97% 85–92% 85–92%
גמישות Excellent (bend radius < 1mm) Poor (brittle, cracks at ~2% strain) Good (bend radius ~3mm)
עמידות מכנית Outstanding (tensile strength 130 GPa) Fragile (ceramic, low fracture toughness) Moderate (corrosion-prone)
יציבות כימית Excellent (inert, acid/base resistant) Moderate (acid-sensitive, In leaching) Poor (Ag oxidation/sulfidation)
מוליכות תרמית ~5,000 W/m·K (in-plane) ~10 W/m·K ~30 W/m·K
זמינות חומרי גלם Carbon: abundant, low cost Indium: critical raw material, supply risk Silver: precious metal, price volatility
טמפרטורת תהליך CVD at ~1,000°C; transfer at RT Sputter deposition at 200–400°C Solution coating, anneal at 120–200°C
מדרגיות Wafer-scale demonstrated (150mm); roll-to-roll emerging Mature; large-area sputtering established Roll-to-roll compatible; limited uniformity
מתאים במיוחד ל Flexible, transparent, high-frequency; 2D heterostructures Rigid touch screens, LCDs, low-cost TCO Flexible touch, EMI shielding, heaters

יישומים

📱

תצוגות גמישות ולבישים

גרפן חד־שכבתי/דו־שכבתי/מעט־שכבתי המועבר למצע מתאים מאפשר <strong>שידור אופטי גבוה</strong> וכיסוי אחיד למערכות אלקטרוניות שקופות וגמישות.

🧬

חיישנים ביולוגיים

פלטפורמת גרפן על מצע מסייעת לאינטראקציה רגישה במיוחד עם פני השטח. בחירה בסוג שכבה (חד־שכבתי/דו־שכבתי/3–5 שכבות) מאפשרת התאמה של התגובה האלקטרוכימית.

⚡

התקני HF/RF

תכונות חשמליות ניתנות לכוונון—לשכבה חד־שכבתית לאחר העברה <strong>200–600 Ω/□</strong>—מסייעות לפיתוח אבטיפוס של התקני RF כאשר אחידות ומוליכות הן קריטיות.

🔋

אחסון אנרגיה וסוללות

גרפן ו־rGO על מצעים מותאמים מספקים שכבות מוליכות ופעילות לפני שטח עבור אלקטרודות ושכבות ביניים, ותומכים בייצור עקבי בגודליות נפוצות של פרוסות (עד 6″).

🔬

מחקר של הטרוסטרקטורות דו־ממדיות

בחרו סוג גרפן (חד־שכבתי >95% כיסוי, דו־שכבתי, 3–5 שכבות, rGO) ואפשרויות מצע (SiO₂/Si, ספיר, קוורץ, PET/PEN, נייר נחושת as-grown) כדי לבנות הטרוסטרקטורות מבוקרות ולחקור ממשקים.

🧪

חיישני גזים וכימיקלים

‏rGO (גרפן מחוזר) ומבני גרפן רב־שכבתי על מצעים יציבים תומכים בחישה המונעת מספיחה. היעד לכיסוי לפי <strong>מיפוי ראמאן</strong> הוא >95% כדי לשמור על עקביות התגובה.

מפרטים טכניים

פרמטרטווח זמין
סוג גרפן Monolayer (> 95% coverage), Bilayer, Few-layer (3–5 layers), Reduced GO (rGO)
אפשרויות מצע SiO₂/Si (90nm/285nm/300nm oxide), Sapphire, Quartz, PET, PEN, Cu foil (as-grown)
גודל פרוסה Up to 4″ (100mm), 6″ (150mm), custom sizes
שיטת גידול CVD CVD on Cu foil, transfer to target substrate
כיסוי > 95% monolayer by Raman mapping
התנגדות יריעה 200–600 Ω/sq (monolayer, transferred)
שקיפות אופטית > 97% at 550nm (monolayer)
יחס I₂D/I_G בראמאן > 2 for monolayer; < 0.5 D/G
FWHM של פס 2D 25–35 cm⁻¹ for monolayer, Lorentzian fit
ניידות (FET) FET mobility: 1,000–5,000 cm²/V·s on SiO₂/Si
רמת אילוח As-transferred: p-type 10¹²–10¹³ cm⁻²
גודל גרעין 10–50μm (standard CVD), up to 1mm (optimized)
חספוס פני שטח Conforms to substrate; Si/SiO₂ roughness < 0.3nm RMS after transfer
שאריות PMMA minimized, thermal annealing available for cleaner surface
אריזה Vacuum-sealed, desiccant pack, Class 100

איכות והסמכה

הבטחת האיכות נתמכת באמצעות בקרות ייצור ותיעוד: <strong>גרפן בשכבה אחת עם כיסוי &gt; 95%</strong>, <strong>התנגדות יריעה 200–600 Ω/sq</strong>, <strong>שקיפות אופטית &gt; 97% ב-550 nm</strong>, <strong>גודל גרעינים 10–50 μm ועד 1 mm</strong>, ו<strong>רמת מחוספסות פני שטח &lt; 0.3 nm RMS</strong>. האריזה היא <strong>Class 100</strong>, עם <strong>ISO 9001:2015</strong> ו<strong>עמידה ב-RoHS/REACH</strong>.

אפיון ספקטרוסקופיית ראמאן אימות סוג השכבה ובדיקת כיסוי באמצעות <strong>מיפוי ראמאן</strong>, עם יעד לחד־שכבתי של <strong>>95%</strong> כיסוי.
מדידת התנגדות ליריעה בדיקת איכות חשמלית לפי התנגדות ליריעה: לשכבה חד־שכבתית לאחר העברה המפרט הוא <strong>200–600 Ω/□</strong>.
בדיקת שידור אופטי בדיקת שקיפות ב־<strong>550nm</strong>; לשכבה חד־שכבתית מוגדר <strong>>97%</strong> שידור אופטי.
AFM (מיקרוסקופ כוח אטומי) אפיון טופוגרפיית פני השטח והמחוספסות כדי לתמוך בהעברה אחידה ובממשק מוכן לתהליך.
SEM (מיקרוסקופ אלקטרונים סורק) הערכת SEM בסריקה כדי לוודא רציפות הסרט, מבנה הגרגרים ואיכות ההעברה.
ניידות נשאים (אפקט הול) מדידת ניידות ב-FET כדי להבטיח ניידות גרפן בטווח של <strong>1,000–5,000 cm²/V·s</strong>.
ניתוח מצבים כימיים ב-XPS XPS מודד באופן כמותי את <strong>יחס פחמן/חמצן</strong>, קבוצות פונקציונליות וזיהום שארי כדי לתמוך בביצועים יציבים של המכשיר.
זיהוי חלקיקים ופגמים בדיקת ניקיון ופגמים על פני הסרט כדי לזהות חלקיקים ופגמים שעשויים להשפיע על תפוקת התהליך.

בקש הצעת מחיר / התאמה לפי מפרט

שתפו אותנו על היישום שלכם ועל הדרישות הרצויות. אנו מזמינים אתכם <strong>לפנות לקבלת פתרון מותאם אישית של גרפן על מצע</strong>.

ISO 9001:2015 כיסוי שכבה יחידה שאושר ע״י ראמאן (>95%) ארוז בחדר נקי בדרגת Class 100 RoHS / REACH