מצעים
תהליכי MEMS
עיבוד מחדש
אביזרים
משאבים
חברה
חנות
30–60% חיסכון בעלות לעומת פריים
עד 5 מחזורים שימוש חוזר בדרגת פריים
100–300mm כל הקוטרים
< 0.5nm RMS חספוס לאחר שחזור

מהו שחזור פרוסות?

שחזור פרוסות הוא התהליך התעשייתי של הסרת כל הסרטים השקועים, שאריות הפוטוריסט וזיהום פני השטח מפרוסות סיליקון משומשות שאינן פרוסות מוצר, ולאחר מכן ליטוש מחדש כימי-מכני למצב הקרוב לזה של פרוסת פריים חדשה. הפרוסה המשוחזרת יכולה לחזור לקו הייצור של המוליכים למחצה — כפרוסת ניטור/בדיקה להסמכת תהליך, או, בשחזור בדרגה גבוהה, כמצע התחלתי בדרגת התקן לשכבות שאינן קריטיות.

תעשיית המוליכים למחצה העולמית צורכת למעלה מ2 מיליון פרוסות סיליקון בחודש למטרות שאינן מוצר — פרוסות בדיקה, פרוסות ניטור, פרוסות דמה ובדיקות חלקיקים. ללא שחזור, פרוסות אלו היו נכנסות לזרם הפסולת לאחר שימוש בודד. השחזור מאריך את תוחלת החיים השמישה של כל פרוסה פי 3× עד 5×, ומספק הן כלכלה משכנעת והן הפחתה מדידה בטביעת הפסולת הסיליקונית של התעשייה. יציקות מובילות משלבות באופן שגרתי פרוסות משוחזרות בתהליכי פיתוח וניטור, וחוסכות עשרות מיליוני דולרים בשנה.

ב-GINECHIP אנו מציעים שירותי שחזור פרוסות רב-מחזוריים בכל הקטרים הסטנדרטיים מ-100mm עד 300mm. כל אצווה משוחזרת עוברת את אותו פרוטוקול מטרולוגיה כמו פרוסות הפריים שלנו — חספוס AFM, TTV/בואו/ווארפ, ספירת חלקיקים (SEMI M53) וניתוח מתכות TXRF — ונשלחת עם תעודת ניתוח מלאה. אנו תומכים הן בשחזור על בסיס הפקדה (הפרוסות שלכם מוחזרות אליכם) והן ברכישת מלאי משוחזר מראש בשוק החופשי.

תהליך שחזור הפרוסות

רצף בן ארבעה שלבים הנשלט בקפידה הופך פרוסת בדיקה משומשת הנושאת ערימות סרטים מרובות, נזקי השתלה ושאריות אורגניות לפני שטח הקרובים לדרגת פריים, המוכנים לכניסה מחדש לפאב. כל שלב מנוטר בגבולות בקרה סטטיסטית של תהליך (SPC) להבטחת עקביות בין אצוות.

שלב 1

בדיקת כניסה ומיון

בדיקה אופטית אוטומטית וסיווג דרגת פרוסה

כלי KLA-Tencor Surfscan / Candela
בדיקה שריטות, בורות, שבבי שוליים, החלקה
מיון דרגה A (שחזור פריים) / B (ניטור) / C (גרוטאות)
עקיבות מזהה Scribe המסומן בלייזר נשמר

כל פרוסה נכנסת נסרקת אופטית לאיתור פגמים מכניים פוסלים — שריטות עמוקות, שבבי שוליים, קווי החלקה וסדקים העולים על ספי הקבלה. הפרוסות מדורגות לפי הפוטנציאל לאחר השחזור וממוינות בהתאם. מזהי סימון לייזר נרשמים לצורך עקיבות ברמת האצווה לאורך כל מחזור השחזור.

שלב 2

הסרה וניקוי

הסרה כימית-מכנית של כל הסרטים, הפוטוריסט וזיהום פני השטח

דיאלקטריים הסרה רטובה מבוססת HF (SiO₂, SiN, low-k)
מתכות H₂SO₄/H₂O₂ (פיראניה) + HCl/HNO₃ (מים מלכותיים)
חומרים אורגניים אפר פלזמת O₂ + ניקוי RCA SC-1/SC-2
סופי HF-last או DHF עבור פני שטח הידרופוביים

רצף אמבט רטוב רב-כימי מסיר את כל החומרים הזרים מפני הפרוסה ומהאזור הסמוך לפני השטח. סרטים דיאלקטריים מתחריטים ב-HF מאגר; מזהמים מתכתיים מומסים בתערובות חומצה מחמצנות אגרסיביות; שאריות אורגניות נאפרות תחילה בתא פלזמת O₂, ואחר כך מוסרות ברצף הניקוי התקני RCA (SC-1/SC-2). טבילת ה-DHF האחרונה מותירה פני שטח סיליקון מסולסלי מימן והידרופוביים.

שלב 3

ליטוש מחדש CMP

הסרת חומר מבוקרת לשחזור שטיחות פני השטח ומיקרו-חספוס

תרחיף סיליקה קולואידית, pH גבוה (מבוסס KOH)
הסרה 5–15μm לכל מחזור (צד אחד)
פלטה בקרת לחץ רב-אזורית לאופטימיזציית TTV
יעד < 0.5nm RMS, < 3μm TTV

מישוריות כימית-מכנית מסירה עובי סיליקון מבוקר — בדרך כלל 5 עד 15μm לכל מחזור שחזור — כדי לחסל נזקי השתלה שיוריים, זיהום תת-פני ומיקרו-שריטות משימוש קודם בפאב. בקרת לחץ פלטה רב-אזורית מייעלת את האחידות בתוך הפרוסה. לאחר CMP מנקים את פני השטח בשטיפת מברשת ובשטיפת מים DI בגלי מגה-על להסרת שאריות חלקיקי תרחיף.

שלב 4

מטרולוגיה סופית ואריזה

אפיון מלא, מיפוי קסטות ואריזה בחדר נקי Class 1

חספוס AFM 1×1μm & 10×10μm scan
חלקיקים KLA-Tencor Surfscan (>0.2μm)
TTV/בואו מד קיבולי, מפת פרוסה מלאה
אריזה קסטה לפרוסה בודדת, שקית עם טיהור N₂

כל פרוסה משוחזרת עוברת את אותה מטרולוגיית יציאה כמו פרוסת פריים חדשה. AFM מאשר את שחזור חספוס פני השטח; סריקת חלקיקים בלייזר מאשרת את הניקיון; מדידה קיבולית מאמתת את הגאומטריה. פרוסות שעברו ממוינות לפי חריצים בקסטות ונאטמות בשקיות מחסום עם טיהור חנקן בסביבת חדר נקי Class 1 (ISO 3). תעודת ניתוח מלאה מלווה כל משלוח.

ביצועי מחזור שחזור

איכותה של פרוסה משוחזרת יורדת באופן צפוי עם כל מחזור עוקב, שכן הסרת החומר המצטברת של CMP מגדילה בהדרגה את ה-TTV ומפחיתה את העובי הכולל. הטבלה שלהלן משווה פרמטרי מטרולוגיה מרכזיים לאורך מחזור חיי השחזור עבור פרוסת התחלה בדרגת פריים 200mm.

פרמטר פריים חדש מחזור 1 מחזור 3 מחזור 5
עובי (μm) 725 ± 15 715 ± 15 695 ± 20 675 ± 25
TTV (μm) < 2.0 < 2.5 < 3.5 < 5.0
חספוס פני שטח RMS (nm) < 0.2 < 0.3 < 0.5 < 0.8
LPDs @ 0.2μm ≤ 10 ≤ 15 ≤ 30 ≤ 50
מתכות (atoms/cm²) < 5×10¹⁰ < 1×10¹¹ < 5×10¹¹ < 1×10¹²
שימוש מומלץ התקן / מוצר התקן / לא קריטי ניטור / בדיקה דמה / מכני

מפרטים טכניים

פרמטרטווח / ערכים זמינים
Wafer Diameter 100mm (4″), 150mm (6″), 200mm (8″), 300mm (12″)
Wafer Type Prime, Test, Monitor, Dummy — all grades accepted for reclaim
Dopant Type P-type (Boron), N-type (Phosphorus, Arsenic, Antimony)
Resistivity As specified by original wafer grade; verified post-reclaim via 4PP
Orientation 〈100〉, 〈111〉, 〈110〉 (off-cut preserved through reclaim)
Maximum Reclaim Cycles Up to 5 cycles for prime-grade; 8+ cycles for monitor/test use
Thickness After Reclaim Original thickness minus 5–15μm per cycle (CMP removal)
TTV After Reclaim < 3μm (200mm), < 5μm (300mm) — verified per SEMI M1
Surface Roughness (RMS) < 0.5nm (AFM, 1×1μm scan) — Epi-Ready classification
Particle Specification ≤ 30 particles @ 0.2μm (SEMI M53); ≤ 10 for premium grade
Metals Contamination < 1×10¹¹ atoms/cm² (TXRF, VPD-ICP-MS) — Fe, Cu, Ni, Cr

מטרולוגיה והסמכת איכות

GINECHIP מיישמת על פרוסות משוחזרות את אותו פרוטוקול מטרולוגיה קפדני כמו על מצעים בדרגת פריים. כל אצווה מלווה בתעודת ניתוח מקיפה (CoA) המתעדת את כל הפרמטרים הנמדדים, נתוני כיול המכשור והחלטות כשיר/לא כשיר מול המפרטים המוסכמים.

חספוס פני שטח AFM חספוס RMS על אזורי סריקה של 1×1μm ו-10×10μm. שחזור בדרגת פריים מכוון ל-< 0.5nm RMS.
ספירת חלקיקים Surfscan פיזור לייזר מסדרת KLA-Tencor SPx עבור LPD ≥ 0.2μm לפי SEMI M53. כולל מיפוי פרוסה מלאה.
מתכות TXRF / VPD-ICP-MS קרינת רנטגן פלואורסצנטית בהחזרה מלאה ו-ICP-MS בפירוק פאזת גז למתכות פני שטח מתחת ל-1×10¹¹ atoms/cm².
TTV / בואו / ווארפ מדידת גאומטריה ללא מגע בכל הפרוסה מבוססת קיבול. מפרט TTV < 3μm עבור 200mm; < 5μm עבור 300mm.
מד ארבע-נקודתי (4PP) אימות התנגדות סגולית בתבנית צלב של 5 נקודות. מאשר שסוג המאלח וההתנגדות הסגולית תואמים את מפרט הפרוסה המקורי.
מיקרוסקופיה אופטית בדיקת שדה כהה ו-Nomarski DIC ב-100× לאיתור שריטות שיוריות, ערפול, בורות ופגמים הקשורים ל-CMP.

התחילו תוכנית שחזור פרוסות

בין אם אתם זקוקים לשחזור על בסיס הפקדה של פרוסות הבדיקה שלכם ובין אם אתם רוצים לרכוש מלאי משוחזר מראש לפיתוח תהליכים, הצוות שלנו יתכנן תוכנית שחזור המותאמת לדרישות האיכות ויעדי העלות של הפאב שלכם.

ISO 9001:2015 תואם SEMI M53 קוטרים 100–300mm עד 5 מחזורי שחזור