מצעים
תהליכי MEMS
עיבוד מחדש
אביזרים
משאבים
חברה
חנות
50nm – 100μm טווח שכבת ההתקן
100nm – 4μm עובי BOX
200mm / 300mm פרוסת אחיזה
Smart Cut · BESOI שיטות ייצור
הזמנה מקוונת — עיינו בקטגוריה זו בחנות שלנו
עיין בחנות

מהו SOI?

סיליקון על מבודד (SOI) הוא טכנולוגיית מצע מהונדסת שבה שכבת התקן דקה של סיליקון חד-גבישי מבודדת חשמלית מפרוסת סיליקון נושאת באמצעות שכבת תחמוצת קבורה (BOX) — בדרך כלל SiO₂ תרמי. ארכיטקטורה תלת-שכבתית זו מבטלת את קיבול הצומת הטפילי המובנה ב-CMOS בנפח, ומעניקה יתרונות משמעותיים במהירות, ביעילות הספק, בבידוד רעש, בעמידות לקרינה ובפעולה בטמפרטורה גבוהה.

טכנולוגיית SOI התפתחה ממצע נישתי להגנה ותעופה וחלל בשנות ה-90 לפלטפורמה מיינסטרים שמפעילה למעלה מ-1.5 מיליארד מודולי RF front-end בשנה, כאשר RF-SOI מחזיקה ביותר מ-85% משוק המתגים ומכווני האנטנה בסמארטפונים. הופעת FD-SOI בצמתי CMOS מתקדמים הרחיבה עוד יותר את טווח ה-SOI אל AI בקצה, מיקרו-בקרים לרכב ותשתיות 5G — כולם מנצלים את היכולת הייחודית לכוונן דינמית את מתח הסף של הטרנזיסטור באמצעות הטיית back-gate.

ב-GINECHIP אנו מספקים פרוסות SOI המיוצרות בכל ארבע השיטות המבוססות — Smart Cut (Soitec), BESOI, SIMOX ו-ELTRAN — בקטרים של 200mm ו-300mm עם מפרטי שכבת התקן ו-BOX מותאמים אישית. כל אצווה מסופקת עם נתוני מטרולוגיה מלאים: TEM חתך רוחב, אליפסומטריה ספקטרוסקופית, חספוס AFM ופרופיל התנגדות SRP.

ארכיטקטורת ערימת חומרים SOI

שכבת התקן Si חד-גבישי | 50nm–100μm

סרט סיליקון חד-גבישי שבו מיוצרים התקנים פעילים. ההתנגדות והאילוח מותאמים לדרישות התהליך שלכם.

תחמוצת קבורה (BOX) SiO₂ תרמי | 100nm–4μm

דו-תחמוצת סיליקון שגודלה תרמית באיכות גבוהה, המספקת בידוד חשמלי, קשיחות בפני קרינה ודיוק עצירת תחריט לשחרור MEMS.

פרוסת אחיזה Si בנפח | 200mm או 300mm

מצע תמיכה מכני. זמין בהתנגדות סטנדרטית או בהתנגדות גבוהה (>3 kΩ·cm) עם שכבת Trap-Rich אופציונלית לביצועי RF משופרים.

טכנולוגיות ייצור SOI

ארבע שיטות ייצור שונות מפיקות מצעי SOI, כל אחת עם פשרות ייחודיות באיכות שכבת ההתקן, בעלות ובמדרגיות. שרשרת האספקה שלנו מכסה את כל ארבע הטכנולוגיות, כך שנוכל להמליץ על ההתאמה הטובה ביותר ליישום, לנפח ולתקציב שלכם.

הנפוץ ביותר

Smart Cut

תהליך קנייני של Soitec המשתמש בהשתלת מימן ובפיצול פרוסה

שכבת התקן 12nm – 2μm
אחידות ±5nm (ultra-thin)
תפוקה High-volume 300mm
מתאים במיוחד ל RF-SOI, FD-SOI CMOS

מימן מושתל יוצר מישור בקיעה קבור; הפעלה תרמית מפצלת את הפרוסה. שכבת ההתקן הנתרמת יורשת את איכות הגביש של פרוסת התורם. ניתן לשחזר ולמחזר את התורם המפוצל, ובכך להפחית עלויות. טכנולוגיה דומיננטית בשוק ה-SOI העולמי (נתח של מעל 90%).

סרטים עבים

BESOI

SOI בהדבקה ותחריט-לאחור — הדבקת פרוסות ישירה עם הדקה מכנית

שכבת התקן 1μm – 100μm
אחידות ±0.5μm (השחזה + ליטוש)
תפוקה Medium (batch bonding)
מתאים במיוחד ל MEMS, Power SOI

שתי פרוסות מחומצנות מודבקות פנים אל פנים בטמפרטורת החדר, ולאחר מכן עוברות אנילינג לחיזוק ההדבקה. פרוסת ההתקן נטחנת ומלוטשת בחזרה לעובי היעד. אידיאלי לשכבות התקן עבות שאליהן Smart Cut אינו מגיע.

דק במיוחד

SIMOX

Separation by IMplantation of OXygen — השתלת חמצן במינון גבוה

שכבת התקן 50nm – 400nm
אחידות ±3nm (as-implanted)
תפוקה Low (serial implant)
מתאים במיוחד ל Rad-hard, niche R&D

יוני חמצן במינון גבוה מושתלים בפרוסת סיליקון; אנילינג בטמפרטורה גבוהה יוצר שכבת SiO₂ סטוכיומטרית מתחת לפני השטח. מפיק את שכבות ה-BOX הדקות והאחידות ביותר. בעל חשיבות היסטורית ל-SOI CMOS מוקשח לקרינה.

מתקדם

ELTRAN

העברת שכבה אפיטקסיאלית (ELTRAN) — תהליך ניתוק על סיליקון נקבובי (Canon)

שכבת התקן 100nm – 5μm
אחידות ±5% (epi-controlled)
תפוקה Medium–High
מתאים במיוחד ל Photonics, specialty apps

סיליקון אפיטקסיאלי שגדל על Si נקבובי מודבק לפרוסת אחיזה מחומצנת. סילון מים מפצל את המבנה לאורך השכבה הנקבובית החלשה מכנית. שכבת ההתקן האפיטקסיאלית מתאפיינת באיכות גביש יוצאת דופן עם צפיפות פגמים נמוכה.

אפשרויות פרוסת אחיזה לביצועי RF

התכונות החשמליות של פרוסת האחיזה משפיעות באופן עמוק על ביצועי התקנים בתדר גבוה — במיוחד במתגי RF-SOI וב-LNA של 5G/mmWave, שבהם טפילי צימוד המצע עשויים לשלוט בהפסד ההחדרה ובעיוות הרמוני.

התנגדות סטנדרטית

10–30 Ω·cm, סוג p באילוח בורון. עלות הנמוכה ביותר, מתאים ליישומי DC ותדר נמוך שבהם צימוד מצע טפילי אינו קריטי.

עלות: $ תדר: DC – 2 GHz

Trap-Rich HR-Si

>3 kΩ·cm עם שכבת מלכודת של פוליסיליקון או Si אמורפי. מדכא את ערוץ ההולכה המשטחי הטפילי שמחליש את ההתנגדות האפקטיבית בתדרים גבוהים. נדרש עבור 5G sub-6GHz ו-mmWave.

Cost: $$$ תדר: GHz – 60 GHz

מפרטים טכניים

פרמטרטווח / ערכים זמינים
Device Layer Thickness 50nm – 100μm (tolerance ±5% or better)
Device Layer Resistivity 0.001 – 10,000 Ω·cm (P-type / N-type)
Device Layer Orientation 〈100〉, 〈111〉, 〈110〉 (off-cut on request)
BOX Thickness 100nm – 2μm thermal SiO₂ (up to 4μm custom)
BOX Uniformity ±1% within-wafer, ±2% wafer-to-wafer (Std Dev)
Handle Wafer Diameter 200mm (8″), 300mm (12″)
Handle Wafer Type Standard, High-Resistivity (>3kΩ·cm), Trap-Rich HR-Si
Manufacturing Method Smart Cut (Soitec), BESOI, SIMOX, ELTRAN
TTV / Bow / Warp As low as < 3μm TTV, < 10μm Bow, < 15μm Warp
Surface Roughness (RMS) < 0.2nm (AFM, 1×1μm scan) — Epi-Ready
Particle Specification ≤ 10 particles @ 0.2μm (SEMI M53 compliant)

יישומים ופלחי שוק

📡

RF Front-End Modules

RF-SOI switches, LNAs, and antenna tuners for 4G/5G smartphones, WiFi 6E/7, and IoT connectivity. Low insertion loss and high linearity over 6 GHz.

⚡

FD-SOI CMOS

Fully Depleted SOI for ultra-low-power digital logic at 28nm, 22nm, and 18nm nodes. Back-bias capability enables dynamic Vt tuning for IoT and edge AI processors.

🔋

Power Management ICs

BCD-SOI technology for automotive, industrial, and consumer PMICs. High-voltage isolation up to 200V with reduced parasitic capacitance.

🔬

MEMS Sensors & Actuators

Precision MEMS structures using the device layer as a mechanical element. Accelerometers, gyroscopes, pressure sensors, micro-mirrors, and RF-MEMS resonators.

💡

Silicon Photonics

SOI waveguides and photonic integrated circuits (PICs) for datacom transceivers, LIDAR beam steering, and quantum photonics. High-index-contrast optical confinement.

🛰️

Radiation-Hardened Electronics

SOI substrates for space, aerospace, and nuclear applications. Inherent latch-up immunity and reduced single-event effects from the insulating BOX layer.

🌡️

High-Temperature Electronics

SOI circuits operating above 225°C for downhole drilling, automotive engine compartments, and geothermal monitoring — where bulk CMOS fails.

⚙️

Power SOI & LDMOS

High-voltage LDMOS transistors on SOI for base station power amplifiers, ENVELOPE tracking, and industrial motor drives. Superior isolation and thermal management.

מטרולוגיה והבטחת איכות

כל אצוות פרוסות SOI עוברת פרוטוקול אפיון רב-טכניקתי קפדני במתקני השותפים שלנו המוסמכים ל-ISO 9001:2015. תעודת אנליזה מלאה (CoA) מלווה כל משלוח.

X-TEM / HR-TEM הדמיית חתך רוחב של שלמות ה-BOX, חדות ממשק Si/SiO₂ וגבישיות שכבת ההתקן.
אליפסומטריה ספקטרוסקופית מיפוי רב-אורכי גל של עובי שכבת ההתקן וה-BOX בדיוק תת-ננומטרי. זמינים מפות של 49 ו-81 נקודות.
חספוס משטח AFM מדידת חספוס RMS על שטחי סריקה של 1×1μm ו-10×10μm. משטחים מוכנים לאפיטקסיה (epi-ready) מובטחים < 0.2nm RMS.
SRP (פרופיל התנגדות התפשטות) פרופיל ריכוז נושאי מטען והתנגדות בפתרון עומק דרך שכבת ההתקן. מאשר אחידות אילוח.
סריקת חלקיקים על פני השטח (KLA-Tencor) ספירת חלקיקים מבוססת לייזר לפי SEMI M53. &le; 10 חלקיקים @ 0.2μm באריזה בחדר נקי Class 1.
מדידת TTV / קשת / עיוות טופוגרפיה של כל הפרוסה מבוססת קיבול. בקרת תהליך הדוקה עם TTV < 3μm עבור SOI 300mm.

זקוקים לפרוסות SOI עבור התהליך שלכם?

ציינו את עובי שכבת ההתקן, עובי ה-BOX, התנגדות פרוסת האחיזה, הקוטר והכמות — מומחי מצעי ה-SOI שלנו יספקו הצעת מחיר מפורטת עם נתוני מטרולוגיה וזמן אספקה תוך 24 שעות.

ISO 9001:2015 תואם SEMI M53 Smart Cut / BESOI / SIMOX 200mm & 300mm