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熱酸化 · PECVD · LPCVD · ALD · スパッタ成膜方法
SiO₂ · Si₃N₄ · Poly-Si · Al · Au · Pt · DBR膜種類
10nm–10μm厚み範囲
Si · ガラス · GaAs · InP · フレキシブル基板オプション

概要

コーティング基板は、幅広い半導体・MEMSデバイスの基盤となる材料です。GINECHIPは、熱酸化膜、LPCVD/PECVD窒化膜、ポリシリコン、金属膜、誘電体多層膜など、包括的なプレコートウェーハ基板サービスを提供し、シリコン、ガラス、化合物半導体基板上でカスタム膜スタックを実現します。

各コーティング基板には、完全な膜特性データと材料認証が付属します。当社の成膜設備は、熱酸化炉、LPCVD/PECVDリアクター、PVDスパッタ・蒸着システムを網羅しており、幅広い基板材料にわたって厳格な厚み・応力・均一性目標に対応できるプロセスの柔軟性を備えています。

利用可能なコーティング種類

熱酸化膜 (SiO₂)

ゲート誘電体、マスキング、パッシベーション向けのドライ・ウェット成長二酸化ケイ素で、厚みと屈折率を精密に制御しています。

  • Dry: 10nm–300nm, Wet: 100nm–2μm
  • Uniformity: ±2% within-wafer
  • Refractive index: 1.46 @ 633nm
  • Breakdown field: > 10 MV/cm

低応力窒化ケイ素 (Si₃N₄)

低応力・高KOHエッチング選択比のLPCVD窒化膜で、MEMSメンブレンや拡散マスキングに最適です。

  • Thickness: 50nm–2μm
  • Stress: < 100 MPa (low-stress nitride)
  • Refractive index: 2.0 @ 633nm
  • Etch selectivity to Si: > 500:1 in KOH

ポリシリコン

抵抗率と結晶粒径を調整可能なドープ・アンドープポリシリコン膜で、ゲート電極、抵抗器、MEMS構造層に使用されます。

  • Thickness: 100nm–10μm
  • Resistivity: 0.001–1000 Ω·cm (doped)
  • As-deposited or annealed (stress control)
  • Grain size: 20–100nm (deposition condition)

金属膜・スタック

スパッタまたは蒸着によるAl、Au、Pt、Niの多層スタックで、ワイヤボンディングパッド、オーミックコンタクト、拡散バリアに使用されます。

  • Al: 100nm–5μm (wirebonding)
  • Ti/Au: 20/200nm–50/1000nm
  • Cr/Au, Ti/Pt/Au, Ti/Ni/Au stacks
  • Sheet resistance as specified per process

分布ブラッグ反射鏡 (DBR) コーティング

高屈折率・低屈折率材料を交互に積層した多層誘電体スタックで、目標波長で99.9%を超える反射率を実現します。

  • SiO₂/TiO₂, SiO₂/Ta₂O₅, SiO₂/Si₃N₄
  • 3–50 layer pairs
  • Reflectivity > 99.9% at design wavelength
  • Custom spectral targets: 400nm–2μm

パリレン・コンフォーマルコーティング

気相重合により成膜される、ピンホールのない生体適合性パリレンで、複雑な形状に対して気密で均一な被覆を実現します。

  • Thickness: 0.5μm–50μm
  • Dielectric constant: 2.65–3.15
  • USP Class VI biocompatible
  • No pinholes, true conformal coverage

対応基板

シリコンウェーハ

50mmから300mmまでのプライムグレード・テストグレードSiウェーハを、コーティング用に任意の結晶方位・抵抗率で提供します。

ガラス基板

光学、MEMS、マイクロ流体アプリケーション向けのホウケイ酸ガラス、溶融シリカ、ディスプレイグレードガラス基板。

GaAs基板

RF、フォトニクス、光電子デバイスのコーティング向けの半絶縁性・n型ヒ化ガリウムウェーハ。

InP基板

精密な成膜を必要とするフォトニクス・高周波デバイス向けリン化インジウムウェーハ。

フレキシブル・ポリマー基板

ポリイミド、PETなどのフレキシブル基板材料に対応する低温対応コーティングプロセス。

サファイア基板

LED、光学窓、高温電子デバイス向けにコーティングされたAl₂O₃基板。

成膜技術

熱酸化

  • ドライ酸化(O₂):ゲート絶縁膜向け最高品質 SiO₂、10nm–300nm
  • ウェット酸化(H₂O 蒸気):厚い酸化膜向けの高い成長速度、100nm–2μm
  • 塩素化酸化(TCA/TCE):パワーデバイスの少数キャリア寿命を向上
  • 100mm、150mm、200mm の Si ウェーハに対応

LPCVD

  • Si₃N₄:低応力レシピ(< 100 MPa)、MEMS メンブレン向け
  • ポリシリコン:ドープまたはノンドープ、結晶粒径と応力を調整可能
  • TEOS SiO₂:優れたステップカバレッジを持つコンフォーマル酸化膜
  • バッチ処理による量産時のコスト効率

PECVD

  • SiO₂:低温(< 400°C)酸化膜、メタライゼーション後パッシベーション向け
  • Si₃N₄:誘電体パッシベーション、応力調整可能(圧縮~引張)
  • SiON、a-Si:反射防止コーティング、吸収層
  • 高い成膜速度、温度に敏感な基板に対応

PVD

  • DC/RF マグネトロンスパッタ:Al、Ti、Au、Pt、Cr、Ni、Cu、ITO
  • 電子ビーム/熱蒸着:リフトオフ工程向け高純度金属膜
  • 反応性スパッタ:TiN、TaN バリア/密着層
  • シャドウマスクまたは全面ウェーハ成膜

品質管理

各コーティング基板は、膜厚マッピング、均一性検証、密着性試験、SEMI規格に基づく表面検査を含む厳格な品質管理を受けます。

膜厚 — 分光エリプソメトリーまたは反射測定(9点マップ)
屈折率 — 633nm 波長で測定
膜応力 — 成膜前後のウェーハ反り測定(Stoney の式)
均一性 — ウェーハ内およびウェーハ間の膜厚ばらつき
シート抵抗 — 導電膜の4探針マッピング
表面欠陥 — ピンホール、パーティクル、色ムラの光学検査

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ISO 9001:2015認証分析プロセスデータ付属カスタム膜スタック