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10⁴–10¹¹ Ω/sq表面抵抗率
< 0.5 sec静電減衰時間
100mm–300mmウェーハ対応サイズ
SEMI E1·E15·E57規格

概要

静電放電(ESD)は、先端半導体製造における主要な素子損傷原因であり、特に先端ロジックノードにおける2nm未満のゲート酸化膜において重大な問題となります。GINECHIPの帯電防止・ESD対応ポリプロピレンカセットは、導電性カーボン充填または帯電防止添加剤を用いて、3段階の保護レベルで電荷蓄積を制御します:制御された緩やかな電荷放出を行う静電拡散性(10⁶–10⁹ Ω/sq)、最も敏感なデバイスを保護する急速放電の導電性(10⁴ Ω/sq未満)、そして汎用・コスト重視用途向けの表面帯電防止処理です。

ESD性能に加え、これらのカセットは金属製品に比べて大幅に軽量であり、自動搬送システム(AMHS)の摩耗や手動ハンドリング時の作業者疲労を軽減します。カスタマイズ可能な抵抗率、黒色または工程識別用カラー、150mm~300mm径にわたり13~50枚のスロット構成でご利用いただけます。

技術仕様

ParameterAvailable Range / Values
Material Antistatic/ESD polypropylene (PP), carbon-loaded conductive PP
Wafer Diameter 150mm (6″), 200mm (8″), 300mm (12″)
Slot Capacity 25 slots (standard), 13 slots, custom slot counts
Surface Resistivity 10⁴–10¹¹ Ω/sq (customizable)
Static Decay < 0.5 seconds per MIL-B-81705C
Protection Tiers Static-dissipative (10⁶–10⁹ Ω/sq), Conductive (< 10⁴ Ω/sq), Topical anti-static
Color Black (standard) or custom for process identification
Weight 50% lighter than metal alternatives
Standards SEMI E1, SEMI E15, SEMI E57, ANSI/ESD S20.20

アプリケーション

ウェーハ搬送・保管

ファブ内・ファブ間のAMHS搬送およびストッカー保管において、軽量なESD対応PPは金属やPEEKに比べ自動化設備の摩耗を軽減します。

計測・検査

CD-SEM、欠陥レビュー、膜厚測定ステーションにおいて、低アウトガス・パーティクル管理されたESD対応カセットが計測チャンバーの清浄度を保護します。

一般クリーンルームハンドリング

Class 100/ISO 5以上のクリーンルーム環境における日常的なウェーハハンドリングで、極端な化学的・熱的要求はないもののコスト効率の良いESD保護が求められる場合に対応します。

ゲート酸化膜敏感デバイス保護

制御されない静電放電を許容できない2nm未満のゲート酸化膜を持つ先端CMOSデバイス向けの導電性グレードカセット(10⁴ Ω/sq未満)。

品質と認証

すべてのESD対応PPカセットはISO 9001:2015認証の品質管理のもとで製造され、ANSI/ESD S20.20に基づくESD性能検証、MIL-B-81705Cに基づく静電減衰試験を実施しています。表面抵抗率は全生産ロットで検証され、試験データはご要望に応じて提供します。

ESD対応PPカセットが必要ですか?

必要な抵抗率とウェーハ径をお知らせください。当社チームが適合性を確認し、24時間以内に詳細な見積もりをご提供します。

ISO 9001:2015 ANSI/ESD S20.20検証済 カスタム抵抗グレード 軽量AMHS対応